鍍層和涂層測厚儀
*beta射線反向散射測量技術
*依照標準ASTM B567,ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準則
*應用在測量許多經典結構的鍍層厚度,包括鎳上鍍金(Au/Ni),環(huán)氧樹脂鍍銅(Cu/epoxy),光致抗蝕劑photoresist,銅上鍍銀(Ag/Cu),科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar,鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe,錫鉛合金Sn-Pb。
* Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應技術測量銅上鍍鎳(Ni/Cu)的厚度。
*探頭系統(tǒng)可以用于精確測量各種樣品表面,從小零件(連接器和端子)到大零件(印制線路板)。
l Micro-Derm BBS厚度標準片(4點設定)包括:純材料的底材,表面鍍層的純材料無限厚片和兩塊經過NIST(美國聯(lián)邦標準技術委員會)認證的標準厚度的薄片。
l 高質量的制造技術確保盡可能精確的鍍層厚度測量。
l 設計體現(xiàn)了的易操作性和高效率。
融合了beta射線反向散射和霍爾效應測量技術。避免了因為存在兩種需要而購買了兩種儀器的麻煩。
*緊湊的設計
*全面的測量能力
*經濟的X射線熒光分析儀器的替代品
*提高生產量
*45種標準檔案記憶允許用戶快速的進行應用轉換。
*的NOVRAM 設計使得即使在備用電源斷電時仍可以保留有價值的校準檔案。
*標準校準模式:4點,3點,2點,線性,多點和Sn-Pb.
*特殊的多點Sn-Pb校準模式可以對不同的Sn-Pb組分進行自動補償和修正。
*新的3點BBS模式并不需要純材料鍍膜標準片。
*多點校正模式應用于霍爾效應測量(測量鎳厚)。