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臺式β射線涂鍍層測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海益朗儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
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  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/9/19 8:33:03
  • 訪問次數(shù)63
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上海益朗儀器有限公司一直致力于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機構,半導體生產等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質的售后服務。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造更大的價值是我們始終追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖!公司部分經營品牌及產品如下:韓國進口Micro Pioneer品牌X射線鍍層測厚儀(XRF-2000L;XRF-2000PCB;XRF-2000H)及Rohs檢測設備(XRF-2000R)美國進口UPA品牌beta射線涂鍍層測厚儀(MP-700(已停產,服務仍在繼續(xù));MP-900(帶霍爾效應功能)CMS(手持式);磁感應/電渦流涂層測厚儀(D-1500;D-3000;D-3000 PLUS);孔銅測厚儀/面銅測厚儀(CD-8);及各種涂鍍層測厚儀標準片俄羅斯進口Intron品牌孔銅厚度測量儀及覆銅板板厚測量儀(ITM-51,ITM-52(已停產,服務仍在繼續(xù));ITM-525)美國進口KOCOUR品牌電解/庫侖測厚儀(電位差測試儀)(model6000)及電解測試液和標準片美國進口START品牌銅箔測厚儀(SM6000)日本進口KETT品牌涂層測厚儀(LZ-990,;LE/LH/LZ-370/373/200J等等型號涂層測厚儀)美國進口SCS品牌離子污染測試儀(OMEGAMETER 600SMD)美國進口Seintl(S.E.)品牌輻射測量表(MC1K,monitor4,inspector等)美國進口CalMetics品牌鍍層測厚儀標準片(標樣,標塊,標準塊)每片均含NIST證書。日本進口KYORITSU產品: 簡易水質測定組-鉛 型號:SPK-Pb 陰離子介面活性劑測定組 型號:WA-DET 水質離子測試滴定組 Drop Test 型號 WAD- 水質離子試驗紙 型號:WAP- 簡易水中油脂濃度測定組 型號 WA-OIL-Sent pH Test Paper PH試驗紙(一般用、電鍍液用) 型號: PH-/PHM- 單項目水質計(DIGITAL PACK TEST )型號:DPM- 全蒸餾檢驗器(detector set total cyanide) 型號:WA-CNT Digital Water Analyzer 多功能水質分析儀 型號:DPM-MTSP 簡易水質離子測試包 型號:WAK-美國進口Walchem產品: 鍍鎳自動添加藥水控制器(型號 WNI310 WNI410 WNI420) 鍍銅/蝕銅自動添加藥水控制器(型號 WCU310 WCU410 WCU420) PH/ORP傳訊器 / 監(jiān)控器備有W-130,W-230 ,WPH310 ,WPH320,WPH410,WPH420 電導率自動添加藥水控制器WEC310,WEC410 WCT400/410冷卻塔控制器;WDT400/410雙路輸入冷卻塔控制器 鍋爐水處理控制器。備有WBL300/310、WBL400/410、WCM300及WCM400/410。 Web Master ONE在線分析過程控制器 WEL探頭電極等相關耗材配件美國進口EXTEC金相磨拋機,低速精密切割機,高速切割機,鑲嵌機,全自動研磨拋光機,金相切割碟,金相切割冷卻液,研磨砂紙,拋光絨布,鑲嵌料,拋光粉,拋光液,拋光膏,凝膠杯,樣片夾,環(huán)氧基樹脂套件,丙烯酸樹脂套件德國SCAN-DIA快速丙烯酸凝膠套件,真空抽氣泵,超聲波清洗機等其他金相設備及耗材。日本 Shoda Techtron品牌 Model : VT-210 V-Score Checker( V槽殘厚測量儀)還有:長臂板厚測量儀,凝膠化時間測試儀,銅箔拉力計(覆銅板抗剝離強度測試儀),疲勞強度測試儀日本進口IWAKI品牌計量泵(ES-B/ES-C/EHN)新加坡進口Qtest品牌特性阻抗測試儀(CIMS1000)美國KOCOUR品牌哈氏槽,整流器,陰極片,陽極片美國KOCOUR品牌離心機,離心管,用于測定硫酸根離子美國ECI品牌電鍍添加劑分析儀(QL-5E和QL-10E)日本GOOT品牌錫爐德國WTW品牌實驗室儀器及手持式儀器儀表
測厚儀
鍍層和涂層測厚儀*beta射線反向散射測量技術*依照標準ASTMB567,ISO/DOS3543和DIN50983的準則*應用在測量許多經典結構的鍍層厚度,包括鎳上鍍金(Au/Ni),環(huán)氧樹脂鍍銅(Cu/epoxy),光致抗蝕劑photoresist,銅上鍍銀(Ag/Cu),科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar,鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe,錫鉛合金Sn-Pb
臺式β射線涂鍍層測厚儀 產品信息

鍍層和涂層測厚儀

*beta射線反向散射測量技術

*依照標準ASTM B567,ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準則

*應用在測量許多經典結構的鍍層厚度,包括鎳上鍍金(Au/Ni),環(huán)氧樹脂鍍銅(Cu/epoxy),光致抗蝕劑photoresist,銅上鍍銀(Ag/Cu),科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar,鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe,錫鉛合金Sn-Pb。

* Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應技術測量銅上鍍鎳(Ni/Cu)的厚度。

*探頭系統(tǒng)可以用于精確測量各種樣品表面,從小零件(連接器和端子)到大零件(印制線路板)。

l Micro-Derm BBS厚度標準片(4點設定)包括:純材料的底材,表面鍍層的純材料無限厚片和兩塊經過NIST(美國聯(lián)邦標準技術委員會)認證的標準厚度的薄片。

l 高質量的制造技術確保盡可能精確的鍍層厚度測量。

l 設計體現(xiàn)了的易操作性和高效率。


融合了beta射線反向散射和霍爾效應測量技術。避免了因為存在兩種需要而購買了兩種儀器的麻煩。

*緊湊的設計

*全面的測量能力

*經濟的X射線熒光分析儀器的替代品

*提高生產量

*45種標準檔案記憶允許用戶快速的進行應用轉換。

*的NOVRAM 設計使得即使在備用電源斷電時仍可以保留有價值的校準檔案。

*標準校準模式:4點,3點,2點,線性,多點和Sn-Pb.

*特殊的多點Sn-Pb校準模式可以對不同的Sn-Pb組分進行自動補償和修正。

*新的3點BBS模式并不需要純材料鍍膜標準片。

*多點校正模式應用于霍爾效應測量(測量鎳厚)。

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