鍍層和涂層測(cè)厚儀
*beta射線反向散射測(cè)量技術(shù)
*依照標(biāo)準(zhǔn)ASTM B567,ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準(zhǔn)則
*應(yīng)用在測(cè)量許多經(jīng)典結(jié)構(gòu)的鍍層厚度,包括鎳上鍍金(Au/Ni),環(huán)氧樹(shù)脂鍍銅(Cu/epoxy),光致抗蝕劑photoresist,銅上鍍銀(Ag/Cu),科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar,鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe,錫鉛合金Sn-Pb。
* Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應(yīng)技術(shù)測(cè)量銅上鍍鎳(Ni/Cu)的厚度。
*探頭系統(tǒng)可以用于精確測(cè)量各種樣品表面,從小零件(連接器和端子)到大零件(印制線路板)。
l Micro-Derm BBS厚度標(biāo)準(zhǔn)片(4點(diǎn)設(shè)定)包括:純材料的底材,表面鍍層的純材料無(wú)限厚片和兩塊經(jīng)過(guò)NIST(美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)委員會(huì))認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)厚度的薄片。
l 高質(zhì)量的制造技術(shù)確保盡可能精確的鍍層厚度測(cè)量。
l 設(shè)計(jì)體現(xiàn)了的易操作性和高效率。
融合了beta射線反向散射和霍爾效應(yīng)測(cè)量技術(shù)。避免了因?yàn)榇嬖趦煞N需要而購(gòu)買(mǎi)了兩種儀器的麻煩。
*緊湊的設(shè)計(jì)
*全面的測(cè)量能力
*經(jīng)濟(jì)的X射線熒光分析儀器的替代品
*提高生產(chǎn)量
*45種標(biāo)準(zhǔn)檔案記憶允許用戶快速的進(jìn)行應(yīng)用轉(zhuǎn)換。
*的NOVRAM 設(shè)計(jì)使得即使在備用電源斷電時(shí)仍可以保留有價(jià)值的校準(zhǔn)檔案。
*標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)模式:4點(diǎn),3點(diǎn),2點(diǎn),線性,多點(diǎn)和Sn-Pb.
*特殊的多點(diǎn)Sn-Pb校準(zhǔn)模式可以對(duì)不同的Sn-Pb組分進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正。
*新的3點(diǎn)BBS模式并不需要純材料鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片。
*多點(diǎn)校正模式應(yīng)用于霍爾效應(yīng)測(cè)量(測(cè)量鎳厚)。