溫度沖擊LED試驗(yàn)機(jī)也可以稱LED測試恒溫恒濕機(jī)顧名思義就是給LED產(chǎn)品做恒溫恒濕試驗(yàn)的設(shè)備,LED實(shí)驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊顧名思義就是給LED產(chǎn)品做冷熱沖擊試驗(yàn)的設(shè)備。雖然它們適合于LED產(chǎn)品使用,但不代表僅限于LED產(chǎn)品使用,還適合于電子、電工、電器、光電、光伏、通訊、機(jī)械、工業(yè)零配件、油漆、涂料、安防產(chǎn)品、家具產(chǎn)品、高校實(shí)驗(yàn)室、航空航天實(shí)驗(yàn)室等等。

溫度沖擊LED試驗(yàn)機(jī)的詳細(xì)參數(shù)介紹:

LED試驗(yàn)設(shè)備恒溫恒濕機(jī)是一款可以做恒溫恒濕實(shí)驗(yàn),可以做定值高溫實(shí)驗(yàn)、做定值低溫實(shí)驗(yàn),還可以做高低溫交變濕熱實(shí)驗(yàn)、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)等實(shí)驗(yàn)條件。本實(shí)驗(yàn)機(jī)滿足GB/T2423.3-2006:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；GB/T2423.2-2001:電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法；GB2424.1-89:電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則；GB/T2423.1-2001:電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法；GB/T2324.2-1989.GB/T2423.1-1989.GB/T2423.4-1993等國家標(biāo)準(zhǔn)。

內(nèi)尺寸可選擇:寬40x高50x深40cm；寬50x高60x深50cm；寬50x高75x深60cm； 寬60x高85x深80cm； 寬100x高100x深80cm；寬100x高100x深100cm.

溫度范圍（范圍內(nèi)任選）：A:0℃～150℃;B-20℃～150℃;-40℃～150℃;-60℃～150℃;-70℃～150℃平衡調(diào)溫調(diào)濕方式，PID智能調(diào)節(jié)

濕度范圍：20%～98%RH;溫濕度均勻度：±2℃,±3%RH;溫濕度波動度：±0.3℃,±2.5%RH

升降溫速率:升溫速率：≥3℃/min;降溫速率：≥1℃/min;(也可定制快速升降溫)。

屬于可靠性試驗(yàn)設(shè)備,可以模擬*溫環(huán)境及極低溫循環(huán)在短時(shí)間或者瞬間內(nèi)轉(zhuǎn)換及交替試驗(yàn)兩種不同的溫度環(huán)境。用于實(shí)驗(yàn)各種材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極熱溫及極冷溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)實(shí)驗(yàn)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。滿足的試驗(yàn)方法有：SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；GB/T 2423.22-2002溫度變化；GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估等等。

內(nèi)尺寸可選擇:：一：寬36*高35*深40cm；二：寬50*高40*深40cm；三：寬60*高50*深50cm；四：寬70*高60*深60cm；五：寬100*高100*深100cm。

溫度范圍（范圍內(nèi)任選）可以選擇，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高溫影響價(jià)格不大，所以一般默認(rèn)為150度極限高溫。

溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:10秒以內(nèi),溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間：≤5min。

溫度波動度：±0.5℃;溫度偏差：±2℃