GDA750輝光放電光譜儀產(chǎn)品描述：
GDA750輝光放電光譜儀產(chǎn)品概述
輝光放電直讀光譜儀（GD-OES）是適用于涂（鍍）層厚度和表面深度組成以及元素成分的*分析技術(shù)。它在熱處理，電鍍，化學(xué)及物理鍍層工藝中有著廣泛的應(yīng)用前景。
GDA750 可以配備60個(gè)以上分析通道，并且能充分地滿足高分辨率和高精度的要求。
涂（鍍）層的深度可測量達(dá)200μm。表面分析可獲得的分辨率達(dá)1 個(gè)原子層。分析軟件具有強(qiáng)大功能并且靈活易用；化學(xué)成份可以與其他特性，如被分析區(qū)域中的密度和質(zhì)量分布同時(shí)測定。通過比較技術(shù)涂（鍍）層工藝過程（CVD，PVD）前后的表面特性，確保生產(chǎn)工藝過程*化和zui大程度地避免廢品和浪費(fèi)。
GDA 750也可用于塊狀樣品的分析（如金屬合金的化學(xué)成份），為復(fù)雜基體材料的分析提供良好線性的工作曲線。
采用可選的射頻輝光放電光源，GDA 750 則可用于分析非導(dǎo)電性材料，如陶瓷、玻璃和油漆涂層。
工作原理
斯派克公司的固定式金屬分析儀是采用了原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理?；鸹ㄅ_(tái)上的樣品通過電弧或火花放電激發(fā)生成原子蒸氣，該蒸氣中的原子與離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜。發(fā)射光譜通過光導(dǎo)纖維進(jìn)入到光譜儀的分光室中，色散成各光譜波段。根據(jù)每個(gè)元素發(fā)射的波長范圍，通過光電倍增管可以測量出每個(gè)元素的*譜線。每種元素的發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素的含量，通過內(nèi)部預(yù)先存儲(chǔ)的校正曲線可測定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來。
德國斯派克分析儀器公司是專業(yè)型的光譜儀生產(chǎn)廠。二十多年來，斯派克公司開發(fā)并生產(chǎn)了SPECTROLAB系列火花直讀光譜儀，GDA-150，GDA-750系列輝光放電直讀光譜儀。這兩大系列的光譜儀產(chǎn)品可滿足多種領(lǐng)域?qū)τ诮饘俨牧铣煞莺托阅芊治龅囊?。斯派克公司擁有的性光譜儀技術(shù)，如UV-PLUS紫外系統(tǒng)，樣品制備情況的檢測方法等更使SPECTRO光譜儀在日常操作，分析精確度，可靠性等方面在同行業(yè)中處于地位。各種全自動(dòng)磨樣機(jī)在幾十家鋼廠連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)。
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