高分辨率探測(cè)器:美國(guó)原裝電制冷Si-PIN探測(cè)器,配套原裝數(shù)字式多道脈沖幅度分析器,檢測(cè)結(jié)果和分析速度遠(yuǎn)比國(guó)內(nèi)采用線性放電法(模擬)多道分析器精準(zhǔn)和快速。
精密穩(wěn)定的高壓電源:采用工業(yè)級(jí)X射線熒光分析的精密高壓電源,為X射線光管提供長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定高壓。
低功率X射線光管:采用W/Rh靶X射線管,*高速風(fēng)扇制冷,設(shè)計(jì)壽命5萬(wàn)小時(shí)。
高像素?cái)z像頭:內(nèi)置高清攝像頭以及微動(dòng)樣品移動(dòng)裝置,方便對(duì)樣品掃描區(qū)域的實(shí)時(shí)準(zhǔn)確定位和觀察。
*的X射線防護(hù)體系:采用電源開關(guān)鎖、精密樣品蓋開合檢測(cè)等安全裝置*防止X射線的泄漏,確保操作人員的安全。
采用新型濾光片:有效的降低X射線熒光本底,提高檢測(cè)靈敏度。*光學(xué)準(zhǔn)直器,光束zui小直徑達(dá)
*的光譜分析方法:緊跟zui前沿的X射線光譜分析方法,科學(xué)的對(duì)光譜進(jìn)行元素定性、定量分析。由于采用了*復(fù)雜的計(jì)算、校正算法,zui大程度上減少了定量分析需要的標(biāo)樣,這在同行中處于地位。通過(guò)改進(jìn)硬件,Pb、Cd等的檢測(cè)靈敏度提高2倍。
技術(shù)指標(biāo):
1.外殼尺寸:
2.測(cè)量窗尺寸:
3.重量: 約
4. 適宜溫度: 5
5. 相對(duì)濕度: ≤80%
6. 元素分析范圍: 鉀(K)到鈾(U)
7. 含量分析范圍: 為2 PPm到99.99%
8. 測(cè)量時(shí)間: 60-300秒(任意調(diào)整)
9. 分辨率: 186eV FWHM@5.9KeV
10. 電源: 交流220V±5V或110V±5V
11. 電源頻率: 47-63 Hz
12. 高壓輸入: +24V dc+-10%,
13. 高壓輸出: 0-50KV@1mA zui大功率50W
14.CCD光學(xué)鏡頭
15.有分析、顯示、打印等功能