葉面積掃描儀YMJ-C對(duì)于不規(guī)則平面面積測(cè)量

　　葉面積掃描儀圖像測(cè)量技術(shù)具有檢測(cè)時(shí)的非接觸性、高精度、在線動(dòng)態(tài)檢測(cè)、測(cè)量速度快及檢測(cè)智能化的特點(diǎn)，已成為現(xiàn)代測(cè)控技術(shù)的重要發(fā)展方向。

　　對(duì)于不規(guī)則平面面積的葉面積掃描儀測(cè)量方法，國內(nèi)外的研究人員曾做了大量的研究工作。例如：在哈爾濱研制的激光CCD零件自動(dòng)識(shí)別檢測(cè)系統(tǒng)；英國研制的AM-100葉面積測(cè)量?jī)x；德國研制的VIDAS型全自動(dòng)圖像分析儀等。這些檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用主要集中于線陣CCD，線陣CCD圖像傳感器與光學(xué)鏡頭配合可用來檢測(cè)大型的目標(biāo)物尺寸。但設(shè)備比較復(fù)雜，需要相當(dāng)精密的驅(qū)動(dòng)傳送控制，適應(yīng)性不夠強(qiáng)。

　　利用面陣葉面積掃描儀可以在約40ms內(nèi)獲得不規(guī)則物體的二維信息，并且不再需要掃描控制電路、驅(qū)動(dòng)傳送機(jī)構(gòu)等，使得設(shè)備相對(duì)簡(jiǎn)單，測(cè)量速度得到提高。并可以采用多個(gè)面陣葉面積掃描儀協(xié)同測(cè)量幾何尺寸大的物體。特殊應(yīng)用玻璃在其工作環(huán)境中（低溫）需具有良好的透過率，但由于工作環(huán)境的緣故，易結(jié)霜或表面附著水氣，嚴(yán)重影響其透過率。

儀器名稱：葉面積掃描儀

儀器型號(hào)：YMJ-C

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