leeb230/231/232，涂層測(cè)厚儀價(jià)格

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leeb230/231/232，涂層測(cè)厚儀價(jià)格技術(shù)指標(biāo)：   

測(cè)頭類型 Leeb230、Leeb231、Leeb232

 測(cè)頭類型 F1、N1、F1或N1

 工作原理 磁感應(yīng)、電渦流、磁感應(yīng)或電渦流

 測(cè)量范圍 0~1000μm

 低限分辨率 0.1μm

 示值誤差 

一點(diǎn)校準(zhǔn) ±（3%H+1）

 二點(diǎn)校準(zhǔn)±[（1~3%）H+1]

 測(cè)試條件

 zui小曲率半徑mm 凸1.5、凹9

 zui小面積直徑mm Φ7

 基本臨界厚度mm 0.5

 工作環(huán)境 溫度 0~40℃

 濕度 20%~90%

 電源 AA型堿性電池1.5V兩節(jié)

 外殼 金屬外殼

 外形尺寸 150×55.5×23mm（主機(jī)）

 重量 240g

 標(biāo)準(zhǔn)配置

  主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AA型堿性電池。

   概述：                        

層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度（如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等） 。  

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