韋氏兒童智力量表：是美國(guó)心理學(xué)家韋克斯勒編制的一組采用個(gè)別施測(cè)的方法，評(píng)估6歲至16歲兒童智力水平的智力測(cè)驗(yàn)工具。其編制原理和特點(diǎn)包括6個(gè)言語(yǔ)分測(cè)驗(yàn)，即常識(shí)、類同、算術(shù)、詞匯、理解、背數(shù)；6個(gè)操作分測(cè)驗(yàn)，即圖畫補(bǔ)缺、圖片排列、積木圖案、物體拼配、譯碼、迷津。其中的背數(shù)和迷津兩個(gè)分測(cè)驗(yàn)是備用測(cè)驗(yàn)，當(dāng)某個(gè)分測(cè)驗(yàn)由于某種原因不能施測(cè)時(shí)，可以用之替代。測(cè)驗(yàn)實(shí)施時(shí)，言語(yǔ)分測(cè)驗(yàn)和操作分測(cè)驗(yàn)交替進(jìn)行，以維持被試的興趣，避免疲勞和厭倦。完成整個(gè)測(cè)驗(yàn)需約50-70分鐘。

       韋氏智力量表是當(dāng)代美國(guó)*為盛行的智力測(cè)驗(yàn)之一，不僅如此，而且世界上約有20多個(gè)國(guó)家，已經(jīng)先后將韋氏智力量表改編，以適合于本國(guó)使用。我們也相繼引進(jìn)了這套韋氏智力量表。

      我公司生產(chǎn)研發(fā)的EFX-1兒童智力測(cè)試儀，不僅可以對(duì)兒童進(jìn)行智能測(cè)評(píng)，而且還提供了相應(yīng)的干預(yù)和指導(dǎo)方案，所以是集測(cè)評(píng)與干預(yù)為一體、功能齊全的一種婦幼設(shè)備，尤其是新增加了國(guó)際通用的韋氏智力檢測(cè)量表（WISC），這也是同類產(chǎn)品所做不到的。

測(cè)評(píng)方法：

                1、丹佛智能測(cè)試（DDST）：可對(duì)0--6歲嬰幼兒進(jìn)行智力測(cè)試。

                2、圖片詞匯測(cè)試（PPVT）：對(duì)3歲半至9歲2個(gè)月的兒童進(jìn)行智力測(cè)評(píng)。

                3、繪人智能測(cè)試（MOD）：測(cè)試4--12歲兒童智商的成熟程度。

                4、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試（CRT-C3）：2007年新修定版本。

                                                               城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--16歲6個(gè)月

                                                               非城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--14歲6個(gè)月

                5、韋氏智力檢測(cè)量表（WISC）：可對(duì)6--16歲兒童進(jìn)行智力測(cè)試。

兒童智力檢測(cè)儀測(cè)試時(shí)間

   DDST測(cè)試時(shí)間一般在10～30分鐘；

   PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定，一般長(zhǎng)為20分鐘；

   MOD 測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；

   CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成；

   WISC測(cè)驗(yàn)需約50-70分鐘。

兒童智力檢測(cè)儀使用的常模：

   1.丹佛智能測(cè)試(DDST)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。共105個(gè)項(xiàng)目，測(cè)量大動(dòng)作、語(yǔ)言、精細(xì)動(dòng)作-適應(yīng)性和個(gè)人-社會(huì)行為四大領(lǐng)域。

                主要用作智力篩選，可早期發(fā)現(xiàn)兒童存在發(fā)育遲滯或異常的可能性。

   2．兒童圖片詞匯測(cè)試(PPVT)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。修訂版為120張圖片，每張圖片代表一個(gè)詞匯。

                 通過(guò)聽覺(jué)詞匯（語(yǔ)言）來(lái)測(cè)試兒童的智力水平。

   3．兒童聯(lián)合型瑞文測(cè)驗(yàn)( CRT-C3)為我國(guó)*新修訂，國(guó)內(nèi)常模。共6組72張圖片。瑞文測(cè)試是一種非文字智力測(cè)驗(yàn)，

                 通過(guò)圖形的辨別、組合、系列關(guān)系、邏輯思維能力等測(cè)試智力水平。

   4．繪人智能測(cè)驗(yàn)(MOD)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。該方法是測(cè)定兒童智力的成熟程度。

                  繪人智商與韋氏及斯坦福比奈量表所得智商的相關(guān)系數(shù)為0.55～0.80，相關(guān)較為密切。

   5、韋氏智力檢測(cè)量表（WISC）：常模數(shù)據(jù)基于我國(guó)6-16歲兒童的抽樣結(jié)果，施測(cè)語(yǔ)言為普通話。文字題目按照我國(guó)的語(yǔ)言習(xí)慣做了相應(yīng)的修改。

含有韋氏量表的兒童智力測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)配置：

       A型儀器：軟件包：（包括韋氏兒童智力量表、丹佛智能測(cè)試、圖片詞匯測(cè)試、繪人智能測(cè)試、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試），臺(tái)車，音響設(shè)備，攝像設(shè)備，品牌電腦一套（包括電腦、觸摸式液晶顯示器、打印機(jī)）

如您需要了解含有韋氏量表的兒童智力測(cè)試儀事宜，請(qǐng)！