兒童智力檢測儀器的主要功能是對0-16歲兒童的智商進行檢測。

測評方法： 1、丹佛智能測試（DDST）：可對0--6歲嬰幼兒進行智力測試。

                2、圖片詞匯測試（PPVT）：對3歲半至9歲2個月的兒童進行智力測評。

                3、繪人智能測試（MOD）：測試4--12歲兒童智商的成熟程度。

                4、聯(lián)合型瑞文稿測試（CRT-C3）：2007年新修定版本。

                                  城鎮(zhèn)為6歲7個月--16歲6個月

                                  非城鎮(zhèn)為6歲7個月--14歲6個月

                5、儀器另有世衛(wèi)組織通用的50余種智力檢測方法

兒童智力檢測儀測試時間

   DDST測試時間一般在10～30分鐘；

   PPVT根據(jù)被測試兒童的實際年齡而定，一般長為20分鐘；

   MOD 測驗標準時間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；

   CRT-C3測試標準時間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成

兒童智力檢測儀標準配置：

       A型儀器：軟件包：（包括丹佛智能測試、圖片詞匯測試、繪人智能測試、聯(lián)合型瑞文稿測試），臺車，音響設(shè)備，攝像設(shè)備，品牌電腦一套（包括電腦、觸摸式液晶顯示器、打印機）

如您需要具體了解兒童智力測試儀器的功能，請！