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涂層測(cè)厚是公司的創(chuàng)立者karl deutsch進(jìn)行開(kāi)拓性工作的結(jié)晶。自從1950年推出的*臺(tái)leptoskop及隨后的研發(fā)工作，才有了目前的leptoskop 系列。 karl deutsch leptoskop 利用磁感應(yīng)的方法確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度。另外 leptoskop 可以利用渦流法測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

leptoskop 2041涂層測(cè)量?jī)x的詳細(xì)介紹

*的涂層厚度測(cè)量率
在2000年博覽會(huì)上涂層測(cè)厚儀被介紹給公眾。 *的大型顯示屏面積達(dá)到28 mm x 55 mm ，64 x 128 像素


這種圖形顯示器不僅使顯示的字符達(dá)到12mm高，更使操作顯著簡(jiǎn)單化。
幾個(gè)菜單項(xiàng)號(hào)可獨(dú)立顯示，且?guī)в星逦淖詣?dòng)說(shuō)明。通過(guò)光標(biāo)移動(dòng)選擇所需功能，通過(guò)點(diǎn)擊enter鍵激活。并且可以在測(cè)量使輕易修改儀器設(shè)置。
幾乎可以在測(cè)量結(jié)果顯示的同時(shí)清晰度出結(jié)果。

在測(cè)量同時(shí)可以顯示平均值。這就使儀器的精確度得到提高，探頭的放置誤差可以被輕松識(shí)別，溢出值可被刪除。另外顯示器具有背景燈照明，可在黑暗條件下使用。大容量的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器可儲(chǔ)存8000個(gè)讀數(shù)，調(diào)用存儲(chǔ)數(shù)據(jù)或與windows操作系統(tǒng)的pc機(jī)聯(lián)機(jī)處理數(shù)據(jù)都很方便。大量的不同種類(lèi)探頭幾乎可以適用所有測(cè)量工作。探頭可被用來(lái)測(cè)量厚達(dá)1200um的磁基體上的非磁性涂層或?qū)w上的非導(dǎo)電涂層。還有可以測(cè)量厚達(dá)12mm的雙極探頭。另外我們還可以按不同客戶的需求定制探頭>