《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》李先生/131*1281*1231

　　溫濕度+振動(dòng)綜合環(huán)境試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

　　型號(hào)：OK-ZTH-80 工作室尺寸：40×50×40 箱體尺寸：120×165×115

　　型號(hào)：OK-ZTH-150 工作室尺寸：50×60×50 箱體尺寸：130×170×125

　　型號(hào)：OK-ZTH-225 工作室尺寸：60×75×50 箱體尺寸：140×185×130

　　型號(hào)：OK-ZTH-408 工作室尺寸：60×85×80 箱體尺寸：165×195×155

　　型號(hào)：OK-ZTH-800 工作室尺寸：100×100×80 箱體尺寸：185×200×175

　　型號(hào)：OK-ZTH-1000 工作室尺寸：100×100×100 箱體尺寸：190×210×185

　　溫濕度+振動(dòng)綜合環(huán)境試驗(yàn)箱推薦標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)

　　GB/T2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法)

　　GB/T2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法)

　　GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(濕熱試驗(yàn)方法)

　　GJB150.3-86Jun用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(高溫試驗(yàn))

　　GB/T 2423.34-2012/IEC 60068-2-38：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

　　GJB899-1990 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)

　　GJB899A-2009 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)

　　GJB367A-2001 Jun用通信設(shè)備通用規(guī)范

　　GJB1407-1992 可靠性增長試驗(yàn)

　　GB/T 2423.35-2005 / IDT IEC 60068-2-50:1983 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

　　GB/T 2423.36-2005 / IDT IEC 60068-2-51:1983 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)

　　GMW3172-2012 電氣-電子元件通用規(guī)范-環(huán)境/耐久性 9.3.1熱循環(huán)振動(dòng)