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電池?zé)釠_擊試驗(yàn)箱，是高溫試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、各種烘烤、老化實(shí)驗(yàn)中，常用設(shè)備之一，適用于電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跍囟拳h(huán)境下...

熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱，主要用于電池安全性能檢測(cè)中爐熱試驗(yàn)、加熱測(cè)試等(適用于 3C 單體電芯或3C 電池組小于 10AH)。

熱沖擊試驗(yàn)機(jī)廠家，模擬電池放置在自然對(duì)流或強(qiáng)制通風(fēng)的高溫箱中，以一定的升溫速率升溫至設(shè)定測(cè)試溫度并保持一定時(shí)間，采用熱風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，可保證工作溫度分布均勻。

熱沖擊試驗(yàn)機(jī)價(jià)格，適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn)，考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。

電池?zé)釣E用試驗(yàn)機(jī)，適用于鋰離子、鎳氫、鎳鎘、鉛酸、金屬氫化物鎳等多種類型的單體電池和電池組,對(duì)電池的干燥、烘焙、熱處理及熱濫用測(cè)試等試驗(yàn)。

電池?zé)釠_擊測(cè)試儀主要用于電池安全性能檢測(cè)中爐熱試驗(yàn)、加熱測(cè)試等。適用于電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跍囟拳h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能上...

輕觸開關(guān)壽命測(cè)試儀可對(duì)手機(jī)按鍵、搖控器按鍵、硅/橡膠按鍵等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。

豪恩系列手機(jī)自由跌落測(cè)試臺(tái)用于電池、包裝箱、MP3等電子制品及零部件之自由跌落測(cè)試。符合UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

微電腦臥式插拔壽命試驗(yàn)機(jī)適用于多種連接器插拔試驗(yàn)之用，可顯示插拔力連續(xù)變化值和峰值，并具有次數(shù)設(shè)定，具有插拔的力值顯示和打印功能。

桌面微跌落試驗(yàn)機(jī)適用于行動(dòng)（手機(jī)）、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講、CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之桌面跌落耐久試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。

點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)儀是平板電腦、手機(jī)、對(duì)話機(jī)、對(duì)講、電子詞典等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)品的檢測(cè)設(shè)備。只需更換筆頭便可適用于電阻屏和電容屏.

微電腦臥式耳機(jī)插拔壽命試驗(yàn)儀適用于多種連接器插拔試驗(yàn)之用，可顯示插拔力連續(xù)變化值和峰值，并具有次數(shù)設(shè)定，具有插拔的力值顯示和打印功能.

豪恩系列電池?zé)釠_擊試驗(yàn)儀器主要用于電池安全性能檢測(cè)中爐熱試驗(yàn)、加熱測(cè)試等。測(cè)試Z終要求電池不能爆炸或著火。

手機(jī)桌面微跌落試驗(yàn)儀適用于行動(dòng)（手機(jī)）、對(duì)講機(jī)、電子詞典、樓寓對(duì)講、CD/MD/MP3等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之桌面跌落耐久試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。

平板電腦扭轉(zhuǎn)壽命測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)平板電腦扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，采用PLC及HMI控制系統(tǒng)，可設(shè)扭力值測(cè)試扭轉(zhuǎn)次數(shù)壽命后，看平板電腦功能是否正常，正反轉(zhuǎn)一次計(jì)一次數(shù)。

受控跌落試驗(yàn)臺(tái)旨在評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用時(shí)客戶可能意外將產(chǎn)品跌落后對(duì)產(chǎn)品性能的影響，適用于：行動(dòng)、PDA、機(jī)、電子辭典、CD、MP3、適配器,電池等小型消費(fèi)類電子產(chǎn)...

手機(jī)扭轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn)儀用于檢測(cè)平板電腦扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)，采用PLC及HMI控制系統(tǒng)，可設(shè)扭力值測(cè)試扭轉(zhuǎn)次數(shù)壽命后，看平板電腦功能是否正常，正反轉(zhuǎn)一次計(jì)一次數(shù)。

豪恩系列小物件跌落測(cè)試機(jī)用于電池、包裝箱、MP3等電子制品及零部件之自由跌落測(cè)試。符合UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

鍵盤按鍵壽命試驗(yàn)儀可對(duì)手機(jī)按鍵、搖控器按鍵、硅/橡膠按鍵等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。

開關(guān)按鍵壽命試驗(yàn)裝置可對(duì)手機(jī)按鍵、搖控器按鍵、硅/橡膠按鍵等做壽命測(cè)試，適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn)。