吳經(jīng)理
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光學(xué)分析天平報價光學(xué)分析天平報價型號:CN61M/TG328A庫號:M179793
儀器特點:可供工礦企業(yè)、科研、高等院校實驗室、化驗室作衡量分析之用。
技術(shù)參數(shù):量程:200g精度:0.1mg機械加碼:10mg-199.990g稱盤尺寸:Φ75mm外形尺寸:520*400*660mm
儀器特點:可供工礦企業(yè)、科研、高等院校實驗室、化驗室作衡量分析之用。
技術(shù)參數(shù):量程:200g精度:0.1mg機械加碼:10mg-199.990g稱盤尺寸:Φ75mm外形尺寸:520*400*660mm
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儀器特點:可供工礦企業(yè)、科研、高等院校實驗室、化驗室作衡量分析之用。
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儀器特點:可供工礦企業(yè)、科研、高等院校實驗室、化驗室作衡量分析之用。
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儀器特點:可供工礦企業(yè)、科研、高等院校實驗室、化驗室作衡量分析之用。
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