直讀光譜儀，英文名為OES（Optical Emission Spectrometer），即原子發(fā)射光譜儀。二戰(zhàn)后，由于歐洲重建，市場(chǎng)對(duì)鋼鐵檢測(cè)有巨大的需求，也促進(jìn)了相關(guān)檢測(cè)儀器的發(fā)展。
六十年代光電直讀光譜儀，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，由于計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計(jì)算機(jī)的小型化及微處理機(jī)的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計(jì)算機(jī)控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對(duì)分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制。
隨著20世紀(jì)80年代計(jì)算機(jī)技術(shù)和軟件技術(shù)的發(fā)展，直讀光譜儀發(fā)展迅速。
如何避免直讀光譜儀的誤差
(1)試樣表面要平整，當(dāng)試樣放在電極架上時(shí)，不能有漏氣現(xiàn)象。如有漏氣，激發(fā)時(shí)聲音不正常。
(2)樣品與控制標(biāo)樣的磨紋粗細(xì)要一致，不能有交叉紋，磨樣用力不要過大，而且用力要均勻，用力過大，容易造成試樣表面氧化。
(3)對(duì)高鎳鉻鋼磨樣時(shí)，要使用新砂輪片磨樣，磨紋操作要求更嚴(yán)格。
(4)試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試樣要有一定的代表性。
(5)電極的*應(yīng)具有一定角度，使光軸不偏離中心，放電間隙應(yīng)保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線強(qiáng)度會(huì)改變。多次重復(fù)放電以后，電極會(huì)長(zhǎng)尖，改變了放電間隙。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸氣也會(huì)污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。
(6)透鏡內(nèi)表面常常受到來自真空泵油蒸氣的污染，外表面受到分析時(shí)產(chǎn)生金屬蒸氣的附著，使透過率明顯降低，對(duì)波長(zhǎng)小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更顯著，所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。
(7)真空度不夠高會(huì)降低分析靈敏度， 特別是波長(zhǎng)小于200nm的元素更明顯， 為此要求真空度達(dá)0.05mmHg。
(8)出射狹縫的位置變化受溫度的影響大，因此保持分光室內(nèi)恒溫30℃很重要，還要求室內(nèi)溫度保持一致，使出射狹縫不偏離正常。
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