當(dāng)前位置：江蘇天瑞儀器股份有限公司>>鍍層/膜厚測厚儀>>X射線鍍層測厚儀,天瑞儀器

X射線鍍層測厚儀,天瑞儀器

返回列表頁

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：肖君查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-07-31 08:11:25瀏覽次數(shù)：67次

聯(lián)系我時(shí)，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  鍍層/膜厚測厚儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

江蘇天瑞儀器股份有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：968條

所在地區(qū)：江蘇蘇州市

聯(lián)系人：肖君（銷售）

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡介

THICK800A是功能強(qiáng)大的X射線鍍層測厚儀，配備高靈敏度的硅漂移探測器(SDD)以及微聚焦射線管；以及各種不同組合的準(zhǔn)直器和濾波器，是完成嚴(yán)苛測量任務(wù)的理想之選

詳細(xì)介紹

THICK800A是功能強(qiáng)大的 X 射線鍍層測厚儀，配備高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD) 以及微聚焦射線管；以及各種不同組合的準(zhǔn)直器和濾波器，是完成嚴(yán)苛測量任務(wù)的理想之選。例如，借助 XDV 設(shè)備，您可以測量僅 5 nm 厚的鍍層厚度及分析其元素成分，還可以對僅 10 μm 結(jié)構(gòu)的工件進(jìn)行測試。

THICK800A特性

借助高性能 X 射線管和高靈敏鍍的硅漂移探測器 (SDD)，可對超薄鍍層進(jìn)行測量
極為堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)支持長時(shí)間批量測試，具有的穩(wěn)定性
擁有大測量距離的XDV-μ LD型（小12mm）
配備氦氣充填的XDV-μ LEAD FRAME型儀器可測量的元素范圍更廣—從Na（11）到鈾（92）
的多毛細(xì)管X射線透鏡技術(shù)，可將 X射線聚焦在極小的測量面上
通過可編程XY工作臺與Z軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測試
憑借視頻圖像與激光點(diǎn)定位，快速、地測量產(chǎn)品

THICK800A應(yīng)用：

THICK800A鍍層厚度測量

抗磨損鍍層，如極小的手表元件上的 NiP鍍層
機(jī)械手表機(jī)芯中可見部件上非常薄的貴金屬涂層
測量已布元器件線路板
測量納米級厚度的金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM）
C4 以及更小的焊接凸點(diǎn)測量（Solder Bump）

THICK800A材料分析

依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）
功能性鍍層的成分，如測定化學(xué)鎳中的磷含量
分析黃金和其他貴金屬及其制成的合金
分析銅柱上的無鉛焊料凸點(diǎn)（Solder Bump）
測試半導(dǎo)體行業(yè)中 C4 以及更小的焊接凸點(diǎn)（Solder Bump）

專業(yè)生產(chǎn)鍍層測厚儀，ROHS檢測儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。