| 深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)國雄電子經(jīng)營部
主營產(chǎn)品： 電子儀器 |
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更新時間：2018-05-16 14:51:34瀏覽次數(shù)：128
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二手處理價 Agilent8711C HP8711C 射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 譚S
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深圳市國雄電子儀器有限公司
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譚曉麗
譚軍紅
: 回收工廠閑置/倒閉電子儀器，個人處理儀器，?。?BR> 回收工廠閑置/倒閉電子儀器，個人處理儀器，！！
:xl88675
服務(wù): 2295386641
地址：深圳市寶安區(qū)流塘路26號國雄大廈307室
產(chǎn)品型號： 8711A/8711B/8711C
頻率范圍： 300KHz-1.3GHz
射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀 8711A/8711B/8711C的詳細介紹
產(chǎn)品指標(biāo)： 300KHz-1.3GHz
產(chǎn)品信息： 8711A/8711B/8711C
射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀，300KHz-1.3GHz
*頻率范圍：300KHz-3GHz（HP8711C和8712C為1.3GHz）
*TCP/IP----相容性Etherwist LAN接口
*內(nèi)部3 1/2英寸磁盤驅(qū)動器（LIF/DOS格式）
*窄帶和寬帶檢測
*“實時"掃描速度（50ms/一次掃描）
*一體化傳輸/反射測試裝置
*1Hz分辨率的合成信號源
*可提供2、6、12端口轉(zhuǎn)接測試裝置
*內(nèi)部HP Instrument BASIC
*100dB的系統(tǒng)動態(tài)范圍
*AM延遲、故障定位和SRL測量
射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀
8711A/8711B/8711C系列射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀以緊湊的一體化儀器形式，為大批量射頻元件的制造、檢驗和維護提供快速、高精度和多方面的測量功能，一體化的合成信號源和傳輸、反射測試裝置使得只需連接一次，就能對射頻元件作出全面的掃頻表征。為了對窄帶器件進行測試，內(nèi)部合成源提供快速（50ms/一次掃描）而穩(wěn)定的激勵。儀器能對的器件特性進行計算并實時加以顯示。每個通道的8個標(biāo)記、標(biāo)記搜索、跟蹤、帶寬和多種數(shù)學(xué)運算功能，均會加速元件的測試。
可選用的TCP/IP-相容性Etherwist LAN接口對生產(chǎn)線上的所有測試儀器提供新的測試參數(shù)、測試線極限和常規(guī)接口的快速，同時分布。LAN功能幫助搜索來自各個工位的測試數(shù)據(jù)，供進行趨分析和質(zhì)量改進使用。
儀器有一個大型的9英寸儀器用顯示器，或利用與VGA兼容的彩色監(jiān)視器來提高可見度。顯示格式包括線性幅度和對數(shù)帳度、群時延、相位（HP8712C型和8714C型）、SWR、極座標(biāo)圖、史密斯圓圖、實數(shù)和虛數(shù)。對于75Ω測量，還提供了dBV/dBmV/dBuV格式。
為了對射頻系統(tǒng)的線性和非線性元件進行測試，一些高靈敏度接收機既有窄帶檢測又有寬帶檢測。寬帶檢測能對頻率轉(zhuǎn)換器件進行表征，面窄帶檢測則能對測試高抑制窄帶器件提供大于dB的動態(tài)范圍。已校外部標(biāo)量檢波器用于測量外部被測件和調(diào)帳延遲。功率掃描則能對放大器的增益壓縮進行測試。內(nèi)置的具有LIF/DOS格式的3。5英寸磁盤驅(qū)動器能對儀器狀態(tài)，數(shù)據(jù)校準和測量以及來自LAN的數(shù)據(jù)傳送進行長時間貯存。
設(shè)計時考慮了制造的需要
HP射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀是為大批量制造而設(shè)計的，因而具有高速和自動化的特點，以縮短每次測試的時間和降低成本。LAN功能，大型VGA易于理解的接口以及整個儀器狀態(tài)的內(nèi)部貯存和調(diào)用，全都可節(jié)省時間和減少操作者錯誤。
利用LAN功能，研究開發(fā)和制造部門能迅速共用和分析數(shù)據(jù)。根據(jù)需要校準的器材設(shè)備和場地數(shù)以及工位，可對合格/不合格趨向進行判斷，通過選擇的變項來研究高速生產(chǎn)率，可靠而及時地建立和分配新的測試限定。獲得對生產(chǎn)量、庫存周轉(zhuǎn)和每次測試成本的評估，許多儀器可經(jīng)編程供多方面使用。多達7種儀器狀態(tài)可用一個軟功能鍵或供先用的腳踏開關(guān)（不用手轉(zhuǎn)換）來迅速調(diào)用。HP公司的“快速調(diào)用"轉(zhuǎn)換能在數(shù)毫秒內(nèi)完成，因而不必手動改變測量參數(shù)。
