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基于高性能紅外顯微鏡AIM-9000的電子產(chǎn)品異物分析
紅外顯微鏡是將紅外光路引入到顯微鏡中，光學(xué)顯微鏡觀察微小樣品，調(diào)節(jié)可變光闌的大小，選擇測(cè)試樣品中的某一微區(qū)，紅外光聚焦后，進(jìn)行紅外分析。顯微紅外法在微量樣品的紅外光譜測(cè)試中發(fā)揮著越來(lái)越大的作用。異物分析技術(shù)通常應(yīng)用于生產(chǎn)出來(lái)的產(chǎn)品有一些斑點(diǎn)狀附著物、油狀物、粉狀物等異常缺陷或表面污染，此時(shí)需要分析異物屬性，進(jìn)而尋找污染源或環(huán)節(jié)，進(jìn)行排查，以改善配方體系，提高產(chǎn)品質(zhì)量。在電子電氣行業(yè)，生產(chǎn)工藝流程復(fù)雜，過(guò)程中使用的物料眾多，操作流水線上的稍微疏漏，都會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品中出現(xiàn)不明異物。這不僅影響產(chǎn)品外觀，影響產(chǎn)品質(zhì)量，甚至?xí)?dǎo)致生產(chǎn)停滯，給企業(yè)帶來(lái)不可估量的經(jīng)濟(jì)損失。由于異物樣品較小，顯紅外微法在微小異物分析中的顯著優(yōu)勢(shì)得以體現(xiàn)。
島津紅外顯微鏡 AIM-9000，可視圖像 330 倍放大，可以實(shí)現(xiàn)zui小視野 30*40 μm 的觀測(cè)范圍，大范圍廣角相機(jī)快速尋找異物點(diǎn)，自動(dòng)對(duì)焦，定位待測(cè)點(diǎn)，測(cè)量的同時(shí)觀測(cè)測(cè)量位置，確保異物點(diǎn)測(cè)量位置零偏移。本文使用 AIM-9000 分析了手機(jī)鏡頭組件中的異物。
島津公司新發(fā)布紅外顯微鏡 AIM-9000
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