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D-30型低本底單路放射性測(cè)量?jī)x

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D-30型低本底單路放射性測(cè)量?jī)x
D-30高精度放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為?30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測(cè)、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總?放射性活度，弱放射性

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D-30型低本底單路放射性測(cè)量?jī)x

D-30高精度放射性測(cè)量?jī)x就弱放射性樣品進(jìn)行測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測(cè)、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總a放射性活度，弱放射性測(cè)量?jī)x主要技術(shù)功能：

l 探測(cè)器：金硅面壘f30 mm，

l 儀器本底：≤5cph

l 探測(cè)效率：≥36%（2π,²³⁹Pu源）