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上海錦川儀表設(shè)備有限公司
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植物冠層分析儀植物冠層分析儀 植物冠層分析儀
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 植物冠層分析儀 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：846更新時間：2017-07-19 05:38:23
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產(chǎn)品介紹
植物冠層分析儀操作原理：
任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性，這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每一波長輻射的吸收、發(fā)送或反射，物質(zhì)的特性就能被確定。在實(shí)際應(yīng)用時，僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外（NIR） 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。750-900納米的近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴(yán)重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計(jì)植物的生物化學(xué)成份。
采用可見/近紅外光反射光譜技術(shù)和多通道光譜信息掃描技術(shù)，可快速測定植被表面參數(shù)、植物冠層信息、植物養(yǎng)分信息、土壤養(yǎng)分信息、環(huán)境參數(shù)、植物病蟲害程度等。
儀器為8通道通用光譜檢測分析儀，zui大可支持16通道不同波段的通用光譜信息采集儀器，用戶可以根據(jù)實(shí)際須要定制不同波段的濾光片進(jìn)行光譜檢測。
儀器自帶8個波段的濾光片，主要中心波段為：550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm.
內(nèi)置傳感器自動校正模塊。
植物冠層分析儀應(yīng)用范圍：
*描述:
-植物正常生長
-植物冠層顔色
-植物生長環(huán)境
*評估:
-作物生物量
-生物化學(xué)含量
-作物產(chǎn)量組成
-作物質(zhì)量因子
-葉面積指數(shù)
-由于病蟲害、空氣污染、養(yǎng)分不足和化學(xué)植物毒素等造成的作物產(chǎn)量損失與品質(zhì)降低
*植物生長調(diào)節(jié)劑的評估
*客觀有效地對各種葉片病害的評級
*監(jiān)測應(yīng)用除草劑的效果
*用于土壤改善和肥力的研究
*葉面施肥的研究
*灌溉日程安排的研究
*干旱對植物生長和產(chǎn)量的影響
*不同基因型的特性
*試驗(yàn)地變異的評估
植物冠層分析儀特點(diǎn)：
輻射計(jì)方向360度可調(diào)，可以自動校準(zhǔn)太陽方向角對測量造成的影響
儀器高矮可調(diào)節(jié)
能夠在少云的情況下使用
8個波段與Landsat衛(wèi)星熱波譜圖的前8條波段相似
重量輕、便于攜帶
可以用于無人值守的操作
大屏幕中文液晶顯示
手持機(jī)可存儲，通過按鍵存儲
帶計(jì)算機(jī)接口，可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī)，以便分析之用
植物冠層分析儀技術(shù)指標(biāo)：
現(xiàn)在已定標(biāo)的有：
A、歸一化植被指數(shù)NDVI、SA-NDVI，WDR-NDVI，RVI
B、光化學(xué)反射系數(shù)PRI
C、葉面積指數(shù)（LAI）
D、冠層林隙比例（GAP SIZE）
E、植物冠層吸收的光合有效輻射分量（FPAR）
波段:8個
中心波長: 550nm,600nm,650nm,730nm, 940nm,1100nm,1250nm,1550nm
操作范圍:0到+50℃,0到100%相對濕度不凝結(jié),<20%的相對濕度下貯藏
反射率區(qū)間:0到100%
分辨率:0.06%
精確度:+/-4%
檢波器:發(fā)光二極管
尺寸：100×100×80mm
存儲數(shù)據(jù)：1000組
響應(yīng)時間：2秒
重量:1kg
植物冠層分析儀配置：
該系統(tǒng)包括輻射計(jì)、數(shù)據(jù)記錄器（手持表）、伸長桿 （可伸長到3.5米）、 AC適配器及充電器、軟件光盤、數(shù)據(jù)連接線、使用手冊
植物冠層分析儀操作方法：
在田間，通過支持架（桿）將輻射計(jì)保持在作物冠層上面的水平位置。田間的觀測直徑是反射計(jì)高于冠層的高度的一半。系統(tǒng)內(nèi)置的數(shù)據(jù)獲取程序便于對電壓數(shù)字化和記錄每一選擇波長的反射百分?jǐn)?shù)。該程序同時允許對多個樣本取平均值。各種輔助數(shù)據(jù)，如時間、入射輻射水平和輻射計(jì)內(nèi)部的溫度，均可在每次掃描時記錄下來。
通過手動開關(guān)或按手持機(jī)觸發(fā)的一次掃描只需約2秒鐘。各種操作過程均有屏幕提示。
輻射計(jì)設(shè)計(jì)允許幾乎同時輸入代表入射輻射和反射輻射的電壓值。這一特性允許在非理想的太陽角度和光照條件下精確測量作物冠層的反射率。在多云條件下，利用系統(tǒng)校準(zhǔn)程序進(jìn)行環(huán)境校準(zhǔn)，仍然可以獲得有用的反射率觀測值。
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