步入式高低溫交變?cè)囼?yàn)室|步入式高低溫環(huán)境試驗(yàn)室
       環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備是模擬各類(lèi)環(huán)境氣候，運(yùn)輸、搬運(yùn)、振動(dòng)、等條件下，是企業(yè)或機(jī)構(gòu)為驗(yàn)證原材料、半成品、成品質(zhì)量的一種方法。目的是通過(guò)使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備做試驗(yàn)，來(lái)驗(yàn)證材料和產(chǎn)品是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。廣泛用于大專(zhuān)院校、hang空、航天、軍事、造船、電工、電子、醫(yī)療、儀器儀表、石油儀表、石油化工、醫(yī)療、汽摩等領(lǐng)域。
        環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備能按IEC、MIL、ISO、GB、GJB等各種標(biāo)準(zhǔn)或用戶(hù)要求進(jìn)行高溫、低溫、溫度沖擊（氣態(tài)及液態(tài)）、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、高壓蒸煮、砂塵、耐爆炸、鹽霧腐蝕、氣體腐蝕、霉菌、淋雨、太陽(yáng)輻射、光老化等

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室|步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房
氣候環(huán)境試驗(yàn)的分類(lèi)

A、按環(huán)境試驗(yàn)形式分類(lèi)：
1） 自然暴露試驗(yàn)：
 　　是將樣品*暴露在天然環(huán)境中，它分為加負(fù)荷和不加負(fù)荷兩種。 　　
2） 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)
 　　為評(píng)價(jià)、分析產(chǎn)品的可靠性，在使用現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行的試驗(yàn)叫現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境試驗(yàn)。 　　
3） 人工模擬試驗(yàn)
 　　是將樣品放在人工模擬試驗(yàn)箱中進(jìn)行的試驗(yàn)。 　　一般來(lái)說(shuō)，自然暴露試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)?zāi)苷鎸?shí)反映產(chǎn)品在實(shí)際使用中的性能和可靠性，也是驗(yàn)證人工模擬試驗(yàn)準(zhǔn)確性的基礎(chǔ)，但這二種試驗(yàn)的不足之處是試驗(yàn)周期長(zhǎng)，花費(fèi)人力物力大，因此只有對(duì)可靠性要求較高的產(chǎn)品才進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。而人工模擬試驗(yàn)是電工電子產(chǎn)品可靠性研究中常見(jiàn)的試驗(yàn)方法。

B、按環(huán)境試驗(yàn)性質(zhì)分類(lèi)
IEC（電工委員會(huì)）Tc75環(huán)境條件分類(lèi)委員會(huì)于1981年頒布了“環(huán)境參數(shù)分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)"，具體如下： 　　
1） 氣候環(huán)境因素：
 　　溫度、濕度、壓力、日光輻射、沙塵、雪等。 　　
2） 生物及化學(xué)因素：
 　　鹽霧、霉菌、二氧化硫、硫化氫等。 　　
3） 機(jī)械環(huán)境因素：
 　　振動(dòng)（含正弦、隨機(jī)）、碰撞、跌落、搖擺、沖擊等。 　　
4） 綜合環(huán)境因素：
 　　溫度與濕度，溫度與壓力、溫度、濕度與振動(dòng)等等。

C、按環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目分類(lèi)
氣候環(huán)境試驗(yàn)其項(xiàng)目可分為如下幾項(xiàng)：高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、低氣壓、濕熱、日光輻射、砂塵、淋雨等，一般將鹽霧和霉菌試驗(yàn)包括在其中。
在上述試驗(yàn)項(xiàng)目中又可分為單因素、綜合及組合試驗(yàn)。

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環(huán)境試驗(yàn)的作用
1） 用于產(chǎn)品研究性試驗(yàn)：
 　　研究性試驗(yàn)主要用于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研制階段，用于考核所選用的元器件、零部件、設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)、采用的工藝等能否滿(mǎn)足實(shí)際環(huán)境要求以及存在的問(wèn)題。為了節(jié)省時(shí)間和充分暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，一般都采用加速環(huán)境試驗(yàn)方法。 　　
2） 用于產(chǎn)品定型試驗(yàn)：
 　　定型試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品能否在預(yù)定的環(huán)境條件下達(dá)到規(guī)定設(shè)計(jì)技術(shù)指標(biāo)和安全要求。定型試驗(yàn)是zui全面的試驗(yàn)，產(chǎn)品可能遇到的環(huán)境因素都必須考慮到。 　　
3） 用于生產(chǎn)檢查試驗(yàn)：
 　　生產(chǎn)檢查試驗(yàn)主要用于檢查產(chǎn)品的工藝質(zhì)量及工藝變更時(shí)的質(zhì)量穩(wěn)定性。 　　
4） 用于產(chǎn)品的驗(yàn)收試驗(yàn)：
 　　驗(yàn)收試驗(yàn)是指產(chǎn)品出廠時(shí)，為了保證產(chǎn)品質(zhì)量必須進(jìn)行的一些項(xiàng)目的試驗(yàn)，驗(yàn)收試驗(yàn)通常是抽樣進(jìn)行的。 　　
5） 用于安全性試驗(yàn)：
 　　用環(huán)境試驗(yàn)可以檢查產(chǎn)品是否危害健康及生命問(wèn)題，用恒加速度來(lái)檢查產(chǎn)品安裝、連接的牢固性，以防止在緊急情況下被甩出而造成人身傷亡事故或撞壞其它設(shè)備。安全試驗(yàn)通常采用較正常試驗(yàn)更嚴(yán)酷的試驗(yàn)等級(jí)進(jìn)行。 　　
6） 用于可靠性試驗(yàn)：
 　　可靠性試驗(yàn)是由環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、現(xiàn)象試驗(yàn)和特殊試驗(yàn)等組成，環(huán)境試驗(yàn)是其中的主要組成部分。美國(guó)MIL-ZTD-781D中明確規(guī)定：環(huán)境試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)的必要補(bǔ)充內(nèi)容，也是提高產(chǎn)品可靠性的重要手段。

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

　　現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項(xiàng)： 　　
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB10587-89 鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB10588-89 長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB10591-89 高溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB10592-89 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB11159-89 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

    環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

    幾種常用的試驗(yàn)設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫 　　
GB5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 　　
GB2423.22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 　　
GB2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ca：恒定濕熱 　　
GB5170.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱 　　
GB2423.9 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱 　　
GB2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉 　　
GB2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ka：鹽霧 　　
GB5170.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB2423.18 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Kb：交變鹽霧 　　
GB2423.19 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)
GB5170.11 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法：腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 　　
GB2423.20 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法 Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫件氫試驗(yàn)方法