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寧波盤羊儀器有限公司
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所 在 地寧波市
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更新時間:2017-03-18 11:28:48瀏覽次數(shù):718次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線便攜式外形結構更加適用于車間生產、品管抽檢,外出攜帶測量等要求快速便捷測量的場所;也適用于中小型半導體材料生產企業(yè).具有高性價比優(yōu)勢.
液晶顯示,顯示方阻、電阻率、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度,樣品厚度單位從米到納米均可輸入,自動測量、質量輕便,操作簡便;
參照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》,采集高精密集成電路恒流源系統(tǒng),提供便捷的操作模式,便攜式外形結構,可充電式電源系統(tǒng),中英文語言版本.
便攜式外形結構更加適用于車間生產、品管抽檢,外出攜帶測量等要求快速便捷測量的場所;也適用于中小型半導體材料生產企業(yè).具有高性價比優(yōu)勢.
液晶顯示,顯示方阻、電阻率、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度,樣品厚度單位從米到納米均可輸入,自動測量、質量輕便,操作簡便;
三、適用范圍:
廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等.
四、技術參數(shù)資料
規(guī)格型號 | FT-394A | FT-394B | FT-394C |
1.方塊電阻范圍 | 0.001~2.00×102Ω/□ | 0.001~2.00×103Ω/□ | 0.001~2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 0.0001~2×103Ω-cm | 0.0001~2×104Ω-cm | 0.0001~2×105Ω-cm |
3.分辨率 | 0.001Ω | 0.001Ω | 0.001Ω |
4.顯示讀數(shù) | 液晶顯示:電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 | ||
5.測試方式 | 單電測量 | ||
6.工作電源 | 5V,1000mA | ||
7.整機不確定性 | ≤4.5%(標準樣片結果) | ||
8.選配 | 選配1.方形探頭; 選配2.直線形探頭;探針間距;選配3:探針間距1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 選配4:探針材質:碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針 |
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商鋪:http://www.yixinui.com/st540268/
主營產品:四探針電阻率測試儀,四探針測試儀,電壓降測試儀,高溫電阻率測試儀,表面和體積電阻測試儀,方阻儀,方阻計,表面電阻測試儀,表面電阻率測定儀,方塊電阻測試儀,半導體電阻率測試儀
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