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LED加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品型號(hào)

品牌艾思荔

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地東莞市

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更新時(shí)間：2017-08-02 08:48:32瀏覽次數(shù)：653次

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  PCT/HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱

hast非飽和老化壽命試驗(yàn)箱

hast加速老化試驗(yàn)箱

pct高壓加速老化試驗(yàn)箱

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  艾思荔

廣東艾思荔檢測(cè)儀器有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：2717條

所在地區(qū)：廣東東莞市

聯(lián)系人：張小姐（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

（/何S）LED加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等）,加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

詳細(xì)介紹

　　/何S www.17asli.com/

　　我司經(jīng)常收到一些廠家的留言詢加速老化試驗(yàn)箱 ，但是留言中沒有提供任何的試驗(yàn)要求，以下是艾思荔加速老化試驗(yàn)箱廠家給出選擇試驗(yàn)箱的方案：

　　艾思荔必須知道您的試驗(yàn)要求才能給出準(zhǔn)確的報(bào)價(jià)，貴司所詢?cè)O(shè)備的實(shí)驗(yàn)條件如：所需設(shè)備的尺寸大小、高溫、濕度、壓力，產(chǎn)品的重量、放多少個(gè)產(chǎn)品做測(cè)試、是否要求，壓力，溫度，濕度是否需要可調(diào)以及特殊要求等等、、、艾思荔可按客戶要求非標(biāo)訂制，更多詳細(xì)資料可進(jìn)入以下或：或www.asletest.com/m站www.aslitesting.com/【可為客戶量身訂制】艾思荔儀器致力于環(huán)境、力學(xué)試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)，ASLI擁有強(qiáng)大的開發(fā)團(tuán)隊(duì)，并取得了多項(xiàng)技術(shù)CE、SGS、ASLI、ISO、TUV、國(guó)家認(rèn)定高新資質(zhì)、艾思荔等品牌證書。

　　所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)格僅為象征性的展示價(jià)格,不能作為實(shí)際Cheng交價(jià),實(shí)際價(jià)格以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn).

　　LED加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

　　LED加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　1、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)品

　　2、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)磁性風(fēng)扇機(jī)構(gòu)循環(huán)(溫度/濕度分布均勻佳)

　　3、安全程序自動(dòng)停機(jī),自動(dòng)泄壓,自動(dòng)破真空,自動(dòng)給水

　　4、HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304

　　5、電磁風(fēng)扇馬達(dá)循環(huán)裝置濕度分布均勻

　　6、飽和或不飽和可程控模式

　　7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示

　　加速老化試驗(yàn)箱 產(chǎn)品規(guī)格：

　　溫度范圍：+105.0℃~+142.9℃

　　濕度范圍：75%~*RH

　　溫濕度穩(wěn)定度：±0.5℃、±3℃RH

　　溫度分布均度：±1℃

　　壓力范圍：0.2~2.0kg/cm2G(選配0.2~4.0kg/cm2G)

　　升溫時(shí)間：室溫上升140℃需約120分鐘

　　內(nèi)箱尺寸：￠45×45/￠65×60

　　材質(zhì)：內(nèi)外不銹鋼板

　　電源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A

　　【詳細(xì)說(shuō)明】www.pctsyj.com/

　　用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

　　隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受*的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。