新的MINITEST 700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的領(lǐng)
-新型的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精準(zhǔn)性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽:
-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加精準(zhǔn)
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精準(zhǔn)度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀主機(jī)技術(shù)參數(shù)
主機(jī)型號(hào) | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | 上限10,000個(gè) | 上限10,000個(gè) | 上限100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)、下限小值、上限大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | ||
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過極限 | ||
測(cè)量單位 | μm,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作溫度 | -10℃~60℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
電 源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標(biāo) 準(zhǔn) | DIN EN ISO ASTM AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | ||
體 積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重 量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀探頭技術(shù)參數(shù)
探頭特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||||
F | N | F | F | N | F | |||
測(cè)量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~-2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm | ||
使用范圍 | 小工件,薄涂層 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | ||
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||||
精準(zhǔn)度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||||
下限小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||||
下限小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||||
下限小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||||
下限小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||||
下限小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | ||
連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||||
單值模式下上限大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置:
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)、或MINITEST 730(外置探頭)、或MINITEST 740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選) 、
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板、操作使用說明CD,德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、
-中文說明書 、
-2節(jié)AA電池、
-塑料手提箱。