QNix4200和QNix4500采用一體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。其中QNix4200為磁性測(cè)厚儀，可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀，不僅可以用來測(cè)量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
體積小巧，操作方便，自動(dòng)識(shí)別基體，精度高 ，價(jià)格便宜

測(cè)量范圍：Fe鐵基探頭：0-3000μm NFe非鐵基探頭: 0-2000μm顯示精度：0.1um 重量：110g

精度：0-50um:≤±1um；50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)；1000-3000um≤±3%讀數(shù)

下限小接觸面：10×10mm/QNix4500

下限小曲率半徑：凸面：3mm；凹面：25mm

下限小基體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補(bǔ)償范圍：0-60℃

顯示：LCD液晶(帶背光)

探頭：紅寶石固定式

電源：2×1.5V干電池

尺寸：100×60×27mm

主機(jī)含探頭、
校準(zhǔn)基體、
電池、
隨機(jī)文件、
儀器箱