產(chǎn)品名稱：導(dǎo)電粒子顯微鏡
 產(chǎn)品型號：PZ-JTM-5040H
產(chǎn)品簡介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能

產(chǎn)品特點：

    導(dǎo)電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、高效率測量儀器。它具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準系統(tǒng)，是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標測量，還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量，測量螺紋的節(jié)距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導(dǎo)電粒子形狀和瑕疵觀察，除應(yīng)用于長度、角度測量外，還可作為觀察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè)，院校、研究所和計量檢定部門的計量室、實驗室已經(jīng)生產(chǎn)車間*的計量檢測設(shè)備之一。

1. 符合人機工程學(xué)設(shè)計準則方便操作測量

2. 工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作

3. 可實現(xiàn)Z軸自動對焦

4. 具有偏光和DIC檢測功能

5. 采用被動式減震裝置，提高整機精度穩(wěn)定性

6. 自主開發(fā)QMS3D-M軟件，高清晰進口1/2"彩色攝像機

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應(yīng)復(fù)雜工件的測量

8. 可實現(xiàn)高度輔助測量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測量

11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

 規(guī)格參數(shù)：