礦石分析儀INNOV-X ALPHA-4000
礦石分析儀INNOV-X ALPHA-4000關(guān)于礦藏的勘探、發(fā)現(xiàn)與開采
XRF是在采礦業(yè)進行元素分析的標(biāo)準技術(shù)。過去,礦工們只能收集樣品送實驗室分析,費用高昂,而且相當(dāng)耗時。而現(xiàn)在Innov-X攜帶型XRF分析儀已經(jīng)成為采礦現(xiàn)場工具箱中的設(shè)備。Innov-X攜帶型XRF分析儀不僅縮短了測試耗時,而且削減了分析費用。它可以現(xiàn)場完成從磷到鈾的元素分析。大部分采礦企業(yè)都實行可持續(xù)發(fā)展戰(zhàn)略,希望小化采礦帶來的環(huán)境污染以及對健康的危害。在熔煉過程中,有害的爐渣不僅會被分析,而且分析結(jié)果還得按照應(yīng)急計劃和公眾知情權(quán)法案(EPCRA)進行處理。美國職業(yè)及健康部門(OSHA)也要求參考過濾物周圍空氣的元素分析結(jié)果來控制有害灰塵對礦工的危害。
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000適用領(lǐng)域
Innov-X a-4000可對各種礦石進行多元素分析,廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測和分析,還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000性能介紹
伊諾斯Innov-X ALPHA-4000便攜式礦石分析儀是現(xiàn)在*的便攜式礦石分析系統(tǒng),由美國Innov-X Systems公司出品。Innov-X Systems是一家專業(yè)生產(chǎn)和制造通用型和高性能的便攜式X-射線熒光分析儀(XRF)的公司。Alpha系列分析儀為目前市場上提供體積小、分析速度快、功能多、精度高的便攜式多用途掌上型X射線熒光分析儀,該分析儀可適用于任何場所,從而確保材料質(zhì)量,確保材料無放射性,輻射比大理石可靠。多種可選擇的濾波器。可即時傳送、讀數(shù),其主要部件是一根微小的X射線管和高分辯率探測器。
該分析儀重量輕(1.6 kg),操作簡單,一鍵式按鈕、長時間工作無疲勞感,可適用于-10°C至+50°C任何場所。
Innov-X ALPHA-4000分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),性同位素,現(xiàn)場分析時能做出快速的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結(jié)果準確,能準確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試。
· 進行原地檢測:只需將伊諾史礦石分析儀直接接觸待測地面、巖石表面、反循環(huán)(RC)樣品、循環(huán)氣流(RAB)樣品或鉆核,用戶即可在短時間內(nèi)采集大量的數(shù)據(jù),從而能夠有效地描述礦脈、為礦石分等級以及表征潛在的環(huán)境危險。
· 對礦體的評估:無須等待和花費即可現(xiàn)場確定礦石等級。現(xiàn)場元素鑒定。
· 對銑頭、精礦和礦渣的分析:對進料、精礦、和礦渣進行快速、準確的分析,以建立高效開采和富集的過程。
· 礦山圖的繪制以及礦石等級的控制:Alpha4000伊諾史礦石分析儀可實時通過現(xiàn)場檢測多個樣品,來引導(dǎo)鉆井程序、管理挖掘和爆破。
· 礦物勘探:在野外對土壤、沉積物、鉆孔樣品等地球化學(xué)進行測定,更高。
· 在鉻分析方面性能好的攜帶型XRF分析儀:礦石中鉻的含量僅為25-45ppm也能檢測到。
· 可對過濾介質(zhì)進行檢測。
· 可對灰塵抹布進行分析。
· 分析袋裝或液體樣品時,可方便地使用測試臺
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000 PDA技術(shù):
Alpha系列塑料分析儀采用分離式PDA,更換、維修、升級方便,Microsoft Windows CE操作系統(tǒng),界面友好、靈活、可升級,中文軟件,數(shù)據(jù)即時顯現(xiàn),彩屏、數(shù)據(jù)線通訊、藍牙無線通訊、SD卡通訊、CF卡通訊、EXCEL格式輸出,TXTL格式輸出、大容量SD卡、大容量CF卡,128M標(biāo)準內(nèi)存,可升級至1Gb閃存
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000 XRF資料建模技術(shù):
· X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦),從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色,并具有的升級潛力。
· 使用了*的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法,可以利用“內(nèi)部標(biāo)準"來進行定量分析,而不需要進行專門的校正。
· 基本參數(shù)分析:采用半定量分析方式,適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。
· 實驗校正法:利用“校正曲線"進行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
· 配備了光譜高點識別軟體,可在顯示幕查看光譜。
· 對比光譜,參考內(nèi)置標(biāo)準完成比較分析。
· 通過更新參數(shù)或更換模式,可以利用存儲的試驗結(jié)果再次進行新的試驗。
· 可以加入新的元素成份,很容易進行校正。因此,Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當(dāng)前和未來的需求。
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000所配置的標(biāo)準分析元素:
標(biāo)準元素: 鈦,釩,鉻,錳,鐵,鈷,鎳,銅,鋅,銣,鍶,鋯,鈮,鉬,銀,錫,銻,鉭,鉿,鎢,鉛,鉍。
根據(jù)不同分析儀的不同配置,儀器檢測所側(cè)重的元素也會有所不同。請您聯(lián)系本公司,根據(jù)您對金屬元素分析的具體要求來為您選擇適合您的金屬分析儀器。
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000樣品準備注意事項:
· 使用便攜式X射線熒光分析儀時,樣品準備的優(yōu)劣程度在很大意義上決定了測試結(jié)果的準確度。
· EPA Method 6200主要是為X射線熒光分析儀進行隨時現(xiàn)場測試而非準備好樣品的測試提供參考標(biāo)準。
· 當(dāng)然, 樣品準備工作也視乎測試目的而有所區(qū)別。 比如說,在做定量的實地篩選時,進行現(xiàn)場測試一般來講就足夠了。這時可以選擇在塑料袋或直接在地上分析樣品。實地測試可以立即提供一系列重要資料,有助于迅速了解現(xiàn)場,從而發(fā)現(xiàn)“熱點"地帶。
· 如果想獲取更多的定量測試結(jié)果,或者是直接與某些實驗室分析(如AA或ICP等)做比較測試,就需要預(yù)先在取樣量杯中將樣品培植得干燥而且均質(zhì)。若想進行理想的比較取樣測試,好的方法就是在實驗室里分析X熒光分析儀分析過的同一樣品。
· 樣品準備注意事項詳情請參考EPA Method 6200 第8頁“樣品準備"部分。
· 在實驗室分析時,請務(wù)必采用*分解法。
美國便攜式環(huán)境分析儀INNOV-X ALPHA-4000基本規(guī)格
基本規(guī)格 |
重量: 2.625 lbs (基本重量) 上電池后 3.375 lbs ( 1.6 kg ) |
X光:X射線管、W正極、10-40kV、10-50uA,五種可選擇的濾波器 |
強勢:尤其對于檢測鉻、氯、磷元素 |
探測器:硅Pin二極管探測器、在5.95keV-alpha線上<230 eV FWHM,溫度范圍: -10℃ 至 50℃ |
操作:扳機或開始/停止鍵,一觸式扳機或選擇“deadman"扳機,或選擇從外接的電腦進行控制 |
電源:可充電鋰電池(包括充電器),同時有電源分析儀和iPAQ,AC轉(zhuǎn)換器(可選) |
電池使用時間:8小時(一般工作循環(huán)),4小時連續(xù)操作(射線管處于使用狀態(tài)) |
元素數(shù)量:包括22種元素的標(biāo)準包裝 |
標(biāo)準元素:鈦,釩,鉻,錳,鐵,鈷,鎳,銅,鋅,銣,鍶,鋯,鈮,鉬,銀,錫,銻,鉭,鉿,鎢,鉛,鉍。 |
顯示屏:彩色,高分辨率觸摸屏,可調(diào)明亮度使其在所有周圍照明環(huán)境下能顯而易見 |
數(shù)據(jù)顯示:集中于ppm, 光譜和/或峰強度(計數(shù)率)或用戶定的單位,取決于所選擇的軟件模式 |
內(nèi)存、數(shù)據(jù)存儲:大可存儲20,000次光譜測試結(jié)果,升級至1Gb閃存卡則可存儲多于100,000次測試結(jié)果,128兆標(biāo)準內(nèi)存 |
處理器:Intel 400MHz StrongArm處理器 |
操作系統(tǒng):Microsoft Windows CE (可移動系統(tǒng))或Windows(PC-based)。軟件模式:準確化學(xué)定量分析;對PVC或溴化塑料進行快速分類(2秒測試) |