光密度檢測(cè)儀/光密度測(cè)試儀 型號(hào)：DP-GMD
有許多的材料，在的過(guò)程中，需要監(jiān)控光密度。公司現(xiàn)研發(fā)一款針對(duì)線的光密度檢測(cè)設(shè)備。用于過(guò)程中，品質(zhì)的監(jiān)控。
光密度檢測(cè)設(shè)備包括以下三部分：
1．探測(cè)系統(tǒng)，主要包括光源，接收器和支架（測(cè)試點(diǎn)的多少，由用戶定制）
2．現(xiàn)場(chǎng)顯示系統(tǒng)，顯示實(shí)時(shí)的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的光密度參數(shù)。
3．電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控采集系統(tǒng)（選配）
光密度（OD）[optical density]定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測(cè)量,表示被檢測(cè)物吸收掉的光密度，是檢測(cè)方法里出現(xiàn)的專有名詞。
光密度沒有量綱單位，是一個(gè)對(duì)數(shù)值，光密度是入射光與透射光比值的對(duì)數(shù)或者說(shuō)是光線透過(guò)率倒數(shù)的對(duì)數(shù)。計(jì)算公式為OD=log10（入射光/透射光）或OD=log10（1/透光率）
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