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Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

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更新時間：2023-12-17 09:34:35瀏覽次數(shù)：164次

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產(chǎn)品簡介

關(guān)鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350
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產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標(biāo)本

詳細(xì)介紹

天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350
產(chǎn)品型號：Crossbeam 350
關(guān)鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標(biāo)本
集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI
受益于SEM中大而無失真的視野
銅樣品的薄片準(zhǔn)備好提升
通過簡單的三步流程開始準(zhǔn)備：ASP
定義配方包括漂移校正，沉積和粗銑和精磨
FIB色譜柱的離子光學(xué)系統(tǒng)可實現(xiàn)工作流程的高通量
復(fù)制配方并根據(jù)需要重復(fù)以開始批量準(zhǔn)備
蔡司Crossbeam的TEM薄片制備工作流程的一部分
帶上顯微操縱器并將薄片連接到其
從散裝中切出薄片
然后，薄片準(zhǔn)備好提升并且可以轉(zhuǎn)移到TEM網(wǎng)格
使用Gemini電子光學(xué)從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息。Ion-sculptor FIB色譜柱引入了一種新的FIB處理方式：通過大限度地減少樣品損傷，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量并同時更快地進(jìn)行實驗。在制備TEM樣品時，使用離子雕刻機FIB的低電壓功能：獲得超薄樣品，同時保持少量的非晶化損傷。在ZEISS Crossbeam系列中，要么利用Crossbeam 350的可變壓力功能或者使用Crossbeam 550進(jìn)行苛刻的表征。
參數(shù)：
SEM：Gemini I光學(xué)，VP選項
腔室尺寸和端口標(biāo)準(zhǔn)：帶18個可配置端口
顯微鏡臺：100毫米行程范圍x / y
示例選項：Inlens SE和Inlens EsB 用于同時成像SE / EsB 成像
VPSE探測器
可變壓力功能（可選）
天津瑞利光電科技有限公司是一家集研發(fā)、工程、銷售、技術(shù)服務(wù)于一體的現(xiàn)代化企業(yè)，是國內(nèi)自動化領(lǐng)域有競爭力的設(shè)備供應(yīng)商。公司主要經(jīng)營歐美和日韓等國的機電一體化設(shè)備、高精度分析檢測儀器、環(huán)境與新能源工業(yè)設(shè)備及電動工具等工控自動化產(chǎn)品。憑借成熟的技術(shù)與商務(wù)團隊，公司在為客戶帶來產(chǎn)品的同時還可提供自動化工程技術(shù)服務(wù)及成套解決方案。