結(jié)合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區(qū)掃描技術(shù),可以精確測(cè)試局部微區(qū)的阻抗及相應(yīng)參數(shù)。
微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)LEIS370 Localized Electrochemical Impedance System
空氣質(zhì)量檢測(cè)儀
光譜/色譜/分光光度計(jì)
結(jié)合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區(qū)掃描技術(shù),可以精確測(cè)試局部微區(qū)的阻抗及相應(yīng)參數(shù)。
- 阻抗譜點(diǎn)分析,即定點(diǎn)頻率掃描
- 阻抗譜的線(xiàn)、面掃描,即定頻率,兩維空間掃描
- zui大掃描范圍 7 x 7cm
- 精確測(cè)定局部區(qū)域的電化學(xué)阻抗,如涂層表面,緩蝕劑,局部腐蝕,生物膜, 多層研究,刮痕測(cè)試
- 需和M370三維平臺(tái)及控制器結(jié)合使用
Frequency Range | Dependent on FRA/LIA |
Display Modes | Impedance line-scan, area scan, point frequency scan, Bode, and Nyquist |
Differential Electrometer | 1015 Ohms input impedance. Common mode range ±12V |
Probe Type | Twin probe socket. RSP type probe. |
Compatible Instruments | Princeton Applied Research: 5210 Lock-In Amplifier 273, 273A, and 263A Potentiostats Solartron Analytical: 1250, 1255, 1255B, and 1260 FRA’s 1286 and 1287 Potentiostats |