電子背散射衍射 (EBSD) 在掃描電子顯微鏡下通過(guò)表征對(duì)多種材料的物理性質(zhì)有影響的晶體結(jié)構(gòu)來(lái)進(jìn)行微區(qū)納米結(jié)構(gòu)分析。
QuasOr 電子背散射衍射
QuasOr, 一臺(tái)名副其實(shí)的電子背散射衍射。
電子背散射衍射 (EBSD) 在掃描電子顯微鏡下通過(guò)表征對(duì)多種材料的物理性質(zhì)有影響的晶體結(jié)構(gòu)來(lái)進(jìn)行微區(qū)納米結(jié)構(gòu)分析。作為 NORAN System 7 的組成部分,QuasOr EBSD能輕而易舉地在進(jìn)行EBSD采集的同時(shí)采集能譜全譜圖像和波譜數(shù)據(jù)。
QuasOr EBSD 是 NORAN System 7 的擴(kuò)展式組成部分。QuasOr EBSD 集成了一系列完整的采集和分析功能組件。
QuasOr EBSD 相機(jī)
QuasOr EBSD 相機(jī)花樣采集標(biāo)定速率高達(dá)600個(gè)/秒。包含一個(gè)集成式機(jī)動(dòng)載玻片和一個(gè)直徑為42 mm的錐形管設(shè)計(jì),允許在多種顯微鏡型號(hào)下同時(shí)進(jìn)行 EBSD、EDS 和 WDS 采集。
取向面分析
QuasOr 提供多種面分析顯示選項(xiàng)。包括 Euler、HKL 和 UVW 取向圖及相圖和晶界分布圖。此外,圖像和花樣質(zhì)量分布圖使分析人員對(duì)數(shù)據(jù)充滿信心。
結(jié)構(gòu)分析
QuasOr EBSD 以極圖、逆極圖或取向分布函數(shù)顯示晶體結(jié)構(gòu)信息。同時(shí)顯示極圖和逆極圖,使分析人員快速獲得樣品結(jié)構(gòu)信息。
同時(shí)全譜元素圖像技術(shù)
NORAN Syetem 7 能夠在不影響采集速率的情況下,全面采集晶體取向分布圖上每一點(diǎn)處的能譜和X射線波譜。EBSD、EDS 和 WDS 數(shù)據(jù)的設(shè)置、采集和分析可通過(guò)單個(gè)界面進(jìn)行管理,無(wú)需在不同程序之間進(jìn)行切換。使分析人員能在zui短采集時(shí)間內(nèi)采集到大量的元素和結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。