MagnaRay 智能型平行光波譜儀

MagnaRay WDS 光譜儀被設(shè)計(jì)為如能譜儀（ EDS） 系統(tǒng)一樣簡(jiǎn)便易用。
MagnaRay波譜儀的自動(dòng)智能化聚焦和參數(shù)設(shè)置功能為使其在電子顯微鏡下進(jìn)行的微區(qū)元素分析提供了的速度和可信度。 內(nèi)置的專家系統(tǒng)能夠智能化自動(dòng)地進(jìn)行聚焦、分析設(shè)置和采集等任務(wù)。 分析數(shù)據(jù)可自動(dòng)與 能譜數(shù)據(jù)合并分析計(jì)算，成為真正的EDS/WDS*無(wú)縫集成的 系統(tǒng)。
 

MagnaRay 波譜儀與 Noran System 7第七代高性能能譜儀無(wú)縫集成。MagnaRay能夠在能譜儀采集數(shù)據(jù)的同時(shí)， 自動(dòng)確定待分析元素并進(jìn)行所有的 WDS 操作。 波譜儀的設(shè)置和操作*由內(nèi)置的專家系統(tǒng)智能化自動(dòng)操控處理。 無(wú)論是針對(duì)譜峰重疊分析、痕量元素確定分析還是準(zhǔn)確地定量分析，MagnaRay 都能輕松、快捷的完成分析。

WDS Precision and Confidence with EDS Ease

• *的微區(qū)分析結(jié)果
• 高分辨率
• 痕量元素高靈敏度分析
• 全波譜范圍內(nèi)無(wú)間斷覆蓋
• 保證靈敏度指標(biāo)

Speed and Precision

• 可直接驅(qū)動(dòng)衍射晶體和計(jì)數(shù)器的革命性設(shè)計(jì)使 MagnaRay在分析任意兩個(gè) 元素時(shí)，晶體切換時(shí)間低至 0.25 秒，從而實(shí)現(xiàn)多元素快速分析（傳統(tǒng)波譜儀此時(shí)可能還在分析*個(gè)元素）
• 配置于直接驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的編碼器確保角度精度低于0.001 度--確保波譜峰始終處于正確位置

SEM and Low Voltage Applications

• X 射線光學(xué)部件延伸至掃描電鏡室，類似于能譜儀固態(tài)探測(cè)器
• 適用于對(duì)高靈敏度、輕元素檢測(cè)、譜峰重疊、高峰背比或高空間分辨率有嚴(yán)格要求的應(yīng)用
• 提供低束流和低電壓操作條件下的高水平應(yīng)用性能

Sensitivity

• X 射線路徑采用聚焦光學(xué)設(shè)計(jì)，能夠?qū)悠返姆瞧叫?X 光轉(zhuǎn)換為強(qiáng)烈、集中的平行光束，隨后利用其中一個(gè)衍射晶體進(jìn)行布拉格衍射
• 采用獲得的毛細(xì)管和掠入射光學(xué)元件的混合聚焦光學(xué)設(shè)計(jì)，在高、低能段均可提供優(yōu)異的計(jì)數(shù)率
• 混合光學(xué)系統(tǒng)與一個(gè)單獨(dú)、可在低能段運(yùn)行、氙元素窗口密封的正比計(jì)數(shù)器相連，與傳統(tǒng)氣體流氣式正比計(jì)數(shù)器相比，大大簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)和操作，并改善了所有元素的分析通量

Nanoscale Analysis

• *的峰背比和*的 X 射線采集速率， 適用于痕量元素分析
• 操作條件取決于樣品和 掃描電鏡，而非波譜儀
• 專為現(xiàn)代納米級(jí)材料分析所需的操作條件而設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了基于 SEM 的納米分析
• 解決高能量、大電流傳統(tǒng) WDS 經(jīng)常遇到的樣品荷電和樣品損壞等問(wèn)題
• 適用于活性體積較小的樣品，例如納米顆粒或薄膜
• 集成*波譜儀功能，無(wú)需高加速電壓或大束流

Qualitative Analysis

• 當(dāng)發(fā)生明顯譜峰重疊時(shí)，配合能譜儀使用將有助于樣品定性分析
• 當(dāng)譜峰重疊現(xiàn)象在能譜圖中較為嚴(yán)重時(shí)，在能譜儀采集過(guò)程中能夠自動(dòng)確定 Mo、S、Pb 或 Si、Ta、W 等元素是否存在

Quantitative Analysis

• 內(nèi)置的專家系統(tǒng)免除了對(duì)樣品位置、束流和光譜儀設(shè)置的顧慮
• 波譜儀會(huì)根據(jù)需要自動(dòng)進(jìn)行聚焦
• 利用能譜圖信息選擇zui合適的元素，對(duì)樣品和波譜儀進(jìn)行聚焦以優(yōu)化操作
• 束流自動(dòng)測(cè)定確保獲得準(zhǔn)確的定量結(jié)果

X-ray Maps and Linescans

• 與傳統(tǒng)能譜儀X射線面分析技術(shù)相比，波譜儀具有高峰背比性能，能夠?yàn)榈蜐舛任镔|(zhì)生產(chǎn)高對(duì)比度X射線面分析圖像和線掃描曲線
• 輕松采集波譜分布圖和線掃描曲線，只需在 NORAN System 7 軟件的周期表中選擇一條元素線
• 波譜儀的所有參數(shù)可根據(jù)這一元素線自動(dòng)設(shè)置為*運(yùn)行條件
• WDS 與 NORAN System 7 軟件之間的無(wú)縫集成意味著 EDS 操作員無(wú)需進(jìn)行額外的培訓(xùn)