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產(chǎn)品型號:ST-Thermal_Rth所在地:西安市更新時間:2019-06-12 在線留言詳細摘要: 瞬態(tài)熱阻抗測試儀測試參數(shù):可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱...
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產(chǎn)品型號:ST-Thermal_X所在地:西安市更新時間:2019-06-12 在線留言詳細摘要: 分鐘級功率循環(huán)試驗臺測試范圍:Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的分鐘級...
產(chǎn)品型號:ST-Thermal_PCmin所在地:西安市更新時間:2019-06-12 在線留言詳細摘要: K曲線測試系統(tǒng)測試參數(shù):可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
產(chǎn)品型號:ST-Thermal_Kcurve所在地:西安市更新時間:2019-06-12 在線留言詳細摘要: 熱阻(抗)測試系統(tǒng)測試參數(shù):Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs
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