便攜式涂層測厚儀minitest 2500為德國EPK研發(fā)生產,德國EPK(EPK ElektroPhysik)總部位于德國科隆,是一家專門開發(fā)和生產各種用于表面處理行業(yè)的精密測量儀器公司,至今已有有超過60年的歷史,公司一直致力于測厚類產品的開發(fā)和研究工作,公司多年來一直致力于防腐層檢測,特別是涂層測厚儀的產品。
MiniTest 2500涂層測厚儀作為MiniTest1100系列的升級產品,為涂層測量領域的廣泛任務提供了多種探頭、不同的校準方法和評估選項。
MiniTest 2500涂層測厚儀具有IP65防護等級, 人機工程學設計,高對比度顯示屏和背光鍵盤,以及其他有用的功能??纱鎯Χ噙_200萬個測量值,通過USB接口向計算機傳輸數據。
minitest 2500涂層測厚儀技術參數
數據存儲 | |
- 可存儲的讀數總數 | 2.000.000 |
- max批組數量 | 1 |
- 具有獨立校準值的應用程序存儲數量 | 無 |
- 具有相同校準值的批組每個應用程序存儲的批組數量 | 無 |
統(tǒng)計功能 (每批組) | kvar, n, max., min. |
kvar, n, max., min. | |
校準 | 出廠校準, 零點和多達四個校準點 |
補償功能 | 無 |
極限設置 (用戶自定義) | 無 |
測量單位 | m, mm, cm, mils, inch |
接口 | USB |
可升級接口 | 無 |
電源 | 3 x AA (LR06) 電池, USB |
每次更換電池的工作時間大約為 | 150 hours (不使用背光) |
規(guī)范和標準 | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882; ISO 19840; ASTM B 244, B 499, D 7091, E376 |
顯示 | 53 x 46 mm, 背光 |
操作溫度/存儲溫度 | –10 °C … 60 °C / –20 °C … 70 °C |
尺寸/重量 | 153 mm x 89 mm x 36 mm/ 320 g (儀器包括電池), |
橡膠保護套 90 g | |
防護等級 | IP65 |
Minitest2500測厚儀實拍展示
德國EPK Minitest 2500可選探頭
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇合適的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | min曲率 | min測量 | min基 |
F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 0.75/5mm | 3mm | 0.1mm |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+20μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm |
N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/5mm | 2mm | 50μm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm |
FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F:0.5mm/N:50μm |
FN1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | F:0.5mm/N:50μm |
F2HT | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm |
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
FN1.6/90為直角探頭,用于管內測量
N.08Cr用于測量銅上鍍鉻。
F2HT為高溫探頭,有兩款,允許在高達250°C或350° C表面溫度的熱表面上進行涂層厚度測量
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