TSU-80W成都冷熱沖擊試驗箱

宏展之一冷熱沖擊測試設(shè)備儀器，電子電路板行業(yè)我們客戶繁多，也得到了客戶的認(rèn)可，多次使用，介紹朋友購買，都是給我們前進的動力。

成都冷熱沖擊試驗箱用途
適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗，也是篩選電子元器件初期故障的*助手。

成都冷熱沖擊試驗箱特點
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品放置測試區(qū)靜止，采用之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試；既可作冷熱沖擊試驗箱使用又可以作單獨的高溫箱或單獨的低溫箱使用；
2、可由測試孔外加負(fù)載配線測試部件；
3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡單易懂，運行狀態(tài)一目了然；
4、全封閉進口壓縮機+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng)；
5、具有RS-232或RS-485通訊接口，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷；
6、可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2槽或3槽之功能，并具有高低溫試驗機的功能；
7、可在預(yù)約開機時間運轉(zhuǎn)中自動提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機功能；
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)，自動(手動)除霜；
9、采用日本Q8-900控制器人機界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全。

成都冷熱沖擊試驗箱

*設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui?。?br />表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能
TSU-80W成都冷熱沖擊試驗箱
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~99%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

成都冷熱沖擊試驗箱

蓄熱式冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表（Programmable Thermal Shock Tster） ---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能 試驗規(guī)范 駐留溫度（℃） （exposure temp.） 駐留溫度時間（Min） （exposure time） 覆歸時間 （recovery time） 周期 或次數(shù) 試驗起 始點 備注 適用機臺型號 TS-（46/80/150/252/336） 高溫 室溫 低溫 高溫/低溫 室溫 S U L MIL-STD-883E （Method 010.7） +85 +10 ---- -55 0 ≧10min ≦15min ---- 含駐留時間& 轉(zhuǎn)換時間≦15min zui少 10次 低溫或 高溫 Temperature Cycling （轉(zhuǎn)換時間<1min） 實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 ◎ ◎ ---- 0 +125 +15 ◎ ◎ ---- 0 -10 +150 +15 ◎ ◎ ---- 0 +150 +15 -65 0 ◎ . ---- 0 -10 MIL-STD-202F （Method 07G） +83 +3 -25 +10 -55 0 28g以下 15～30 Min 28～136g 30Min 136g～1.36Kg 60Min 1.36～13.6Kg 120Min 13.6~136Kg 240Min Max. 5 Min 5 Min 以內(nèi) 5 cycle 25 50 100 低溫 Transfer time 不超過5 min ◎ ◎ ◎ 0 -3 +125 +3 -65 0 ◎ ◎ ---- 0 -5 -5 +125 +3 -65 0 ◎ ◎ ---- 0 -5 JIS C 0025 IEC 68-2-14 GB 2423.22 +70 +85 +100 +125 ±2 ±2 ±2 ±2 室溫 -5 -10 -25 -40 -55 -65 ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 ±3 3hr 2hr 1hr 30min 或無定義則 以3hr定義 手動轉(zhuǎn) 移時間 2～3Min 為駐留時間 之1/10 5 cycle 除非有 其它規(guī)格 低溫 Auto Transfer time 不超過30 sec 小試件 Transfer time 不超過10 sec ★ ★ ★ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ ◎ 　 　 ◎ ◎ ◎ 　 　 ◎ ◎ ---- IPC 2.6.7 +70 ±2 ---- 0 +0 15 Min ---- 2 Min 以內(nèi) 100 cycle 高溫 （試驗結(jié)束 點在高溫） Transfer time 不超過2 min ★ ★ ★ -0 -5 +85 +5 -40 +0 ◎ ◎ ◎ -0 -5 +105 +5 -55 +0 ◎ ◎ ． -0 -5 +105 +5 -65 +0 ． ． ---- -0 -5 +105 +5 　 　 ． ． ---- -0 IPC 2.6.6 +85 +3 -25 +10 -55 +0 30 Min 10-15 Min 　 5 cycle 　 　 ◎ ◎ ◎ -0 -5 +125 +3 -5 -65 +0 ◎ ◎ ---- -0 -5

*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

保養(yǎng)說明：

1.在實施保養(yǎng)中過程中，請務(wù)必將機器之總電源及漏電斷路器予以關(guān)閉

2.請確實實施各機件的定期保養(yǎng)，以維持機器正常運作。