詳細(xì)介紹
Nicomp系列激光粒度電位檢測儀均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計,Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。
美國PSS激光粒度電位檢測儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種實驗測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號,使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助,比如在檢測右旋糖酐大分子時,折射率的特性會引起光散射強度不足。
因為大功率激光器的特性,會彌補散射光強的不足和衰減,測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個苛刻的難題。即使沒有色譜分離,Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。
為了容易理解什么叫做強度隨時間波動,我們必須先理解相干疊加(coherent addition)或線性疊加(superposition)的概念,進一步要知道檢測區(qū)域內(nèi)的不同的粒子產(chǎn)生了很多獨立散射光,這些獨立的散射光相干疊加或互相疊加的終結(jié)果就是光強。這種物理現(xiàn)場被稱為“干涉”。下圖是光干涉圖樣。