環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試

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更新時間：2020-02-03 15:23:51瀏覽次數：450次

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蘇州弗士達科學儀器有限公司

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產品簡介

加工定制	否

環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試根據用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。

詳細介紹

環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試根據用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。
其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據客戶的需求訂制。

系統(tǒng)特點

避免高溫對硅光電測試影響的設計方案
硅光電二極管工作溫度范圍-20-70℃，并且隨著溫度的改變，硅光電二極管光電流轉換效率，以及暗態(tài)電流都會改變，直接造成相對亮度測量不準確。即使是耐高低溫環(huán)境的硅光電二極管，但在*的高低溫環(huán)境下工作，也會*縮短其使用壽命。為避免硅光電二極管的溫度影響因素，同時保證使用壽命，將硅光電放置在室溫環(huán)境的測試機柜內部，通過光纖把高溫老化試驗箱內的器件發(fā)光傳導過來，進行測量。

環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試參數
溫度范圍： -40～100 ℃ （標準型，其它溫度范圍可訂制）
溫度均勻度：±2.0℃
溫度波動度： ± 0.5℃
溫度精度：1 ℃
升溫速度： 1.0～3.0℃/min
降溫速率： 0.7～1.2℃/min
濕度范圍：30%～98%RH （標準型，其它濕度范圍可訂制）
濕度波動度：±1.5％R.H
濕度偏差：±2.5％R.H

軟件功能
（1）測量模式：恒壓、恒流、恒亮模式
（2）測量數據：測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預估壽命、亮度衰減比、溫度
（3）測量圖表：衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
（4）測量時間：三個時間段設計，每個時間段可以分別設置測量時間間隔等參數
（5）發(fā)光點測量的獨立性：每個發(fā)光點可以獨立設置電壓或電流等參數，共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
（6）光學壽命測量時,每個發(fā)光點可以獨立開始和停止測量,每個發(fā)光點均可設置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或更換其中幾片產品
（7）圖表實時查詢：支持圖表在測量過程中實時查詢，不必等待測量結束后再看數據和圖表
（8）曲線圖：支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數據，在圖表里顯示曲線。