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徠卡正置顯微鏡DM6 M LIBS

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更新時(shí)間:2024-04-07 14:39:35瀏覽次數(shù):50

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將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中,與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比, 測(cè)定微觀結(jié)構(gòu)成分 的時(shí)間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對(duì)您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。

詳細(xì)介紹

徠卡正置顯微鏡DM6 M LIBS

實(shí)現(xiàn)快速精確材料分析的二合一系統(tǒng)
DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。

識(shí)別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分,隨后只需單擊一下,即可觸發(fā) LIBS 分析。

優(yōu)勢(shì)概覽
與典型的電鏡方法*相比,節(jié)省 90% 的時(shí)間,而且
以可靠的目視和化學(xué)檢驗(yàn)材料信息為基礎(chǔ),快速做出自信的決策。
*可根據(jù)要求提供證明

無(wú)需 SEM 樣品制備
為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進(jìn)行材料分析能節(jié)省 90% 的時(shí)間?因?yàn)檫@種解決方案:

無(wú)需樣品制備和轉(zhuǎn)移;
無(wú)需系統(tǒng)調(diào)節(jié);且
無(wú)需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。
減少工作流程
將工作流程精簡(jiǎn)至只有一個(gè)步驟,以結(jié)果為重點(diǎn)。

組件清潔度分析
DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合,讓您僅使用一臺(tái)儀器和一個(gè)工作流程即可對(duì)過(guò)濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗(yàn)。

這樣可以更輕松地找到污染源。

做出自信的決策
通過(guò)快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù),您將得到在分析過(guò)程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢(shì)。

微觀結(jié)構(gòu)成分的評(píng)估
DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析,例如礦石、合金、陶瓷等。

無(wú)需進(jìn)行樣品制備,也無(wú)需在 2 個(gè)或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個(gè)分析工作流程全部在一臺(tái)儀器上完成。

減少占用人力資源的樣品制備
減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析,從而節(jié)省時(shí)間和資金。


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