| 商品名稱： | 低阻抗率計(jì) MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX |
| 特色： | 維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)世界之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì) 操作簡(jiǎn)單，現(xiàn)場(chǎng)使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理 |
| 測(cè)定范圍： | 10-2～106Ω |
| 資料輸出： | USB Memory |
| 體積： | 約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g |
| 標(biāo)準(zhǔn)配備 | ||
 | ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》 利用價(jià)值廣泛標(biāo)準(zhǔn)探頭JIS K7194對(duì)應(yīng)， Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm | |
 | MCP-TA06 充電器 | |
| 選購品 | |
 | ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》 不均一樣品用 Pin間 5mm，Pin尖 ? 2×4支，壓力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm |
 | PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》 小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支， 尺寸 ? 10-20× L112mm |
 | QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》 微小樣品用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支， 尺寸 ? 10-20× L112mm |
 | NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支 |
 | BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》 大樣品用 Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支 |
 | TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支 |
 | AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》 標(biāo)準(zhǔn)樣式 Pin間 10mm，Pin尖 ? 2×2支，壓力 240g/支 |
 | BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》 大樣品用 Pin尖 ? 2×2支，壓力 240g/支 |
 | MCP-TRF1探頭檢驗(yàn)片 ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之) |
 | MCP-TRPS 探頭檢驗(yàn)片 PSP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之) |
 | MCP-TRTF 探頭檢驗(yàn)片 TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之) |
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