詳細(xì)介紹
儀器簡介
激光質(zhì)譜采用精細(xì)化控制單元,高能量的“平頂 (homogenized-flat)”激光和飛速響應(yīng)的“邊對邊 (shot-to-shot)”技術(shù)帶來高分辨率空間分析能力。創(chuàng)新的“動態(tài)剝蝕功能 (fire-on-the-fly)”采用高分辨率XY移動平臺技術(shù),同時移動平臺能夠?qū)崟r觸發(fā)激光的發(fā)射,*應(yīng)用于線掃描的深度剝蝕和元素分布圖的分析。另外,高分辨率GigE真彩顯微攝像觀察技術(shù),觀察單元光學(xué)分辨率小于2μm,提供透射、反射和環(huán)形可調(diào)亮度的照明和十字交叉偏振系統(tǒng),能夠?qū)崟r顯示實(shí)時縮放的動態(tài)寬視野場,實(shí)現(xiàn)快速樣品定位導(dǎo)航。結(jié)合足夠高的剝蝕能量(50J/cm2),Analyte HE能夠輕松剝蝕各類樣品甚至是具有挑戰(zhàn)性的物質(zhì),包括高純石英、彈性碳酸鹽等樣品,同時光束能量均勻化分布,以確保在整個光斑尺寸范圍內(nèi)和各種材料上均勻剝蝕。
應(yīng)用范圍
環(huán)境樣品分析 | 物證樣品分析 |
地質(zhì)樣品分析 | 同位素定性分析 |
■ 同位素分析 | 元素分布圖繪制分析 |
■ 流體包裹體分析 | 深度剝蝕分析 |
■ 地質(zhì)年代測定 | 古溫度測定 |
樣品種類
石英/螢石;方解石/文石/鋯石;透明和半透明類樣品;骨頭/化石;陶瓷;塑料;超薄涂層/鍍層;各種礦物等。
激光質(zhì)譜主要性能參數(shù):
■ 超短193nm激光波長
■ 脈沖寬度<20ns
■ 足夠剝蝕石英及螢石的能量密度,高達(dá)50J/cm2
■ 密閉氣室
■ 激光束能量分布均勻化,剝蝕均勻
■ 標(biāo)配100x100mm移動平臺,可選150x150mm平臺
■ 同步“動態(tài)剝蝕功能”實(shí)現(xiàn)的剝蝕深度控制
■ 獨(dú)立的視頻和激光光學(xué)控制單元,能夠更好的查看樣品剝蝕點(diǎn)
■ 剝蝕光斑范圍1-170μm
■ 標(biāo)配30個剝蝕光斑,光斑可定制
■ 標(biāo)配HelEx II雙體積雙氣路渦流樣品池