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詳細(xì)介紹
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀完美結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。
作為先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，*解決了*以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能強(qiáng)大的粒度與Zeta。
NanoBrook產(chǎn)品系列
項(xiàng)目 | 173 | 173Plus | Omni | ZetaPALS | |
功
能 | 粒度測量功能 | ● | ● | ● | ○ |
分子量測量功能 | ● | ● | ● | ○ | |
Zeta電位測量功能 | ○ | ○ | ● | ● | |
技
術(shù)
參
數(shù) | 散射角 | 15°與173° | 15°、90°與173° | ○ | |
粒度范圍 | 0.3nm-10μm | ○ | |||
分子量測定范圍 | 342～2×107Dalton | ○ | |||
相關(guān)器 | 4×522個物理通道，4×1011個線性通道 | ○ | |||
Zeta電位適用粒度范圍 | ○ | 1nm～100μm | |||
Zeta電位范圍 | ○ | －500mV～500mV | |||
電導(dǎo)率范圍 | ○ | 0-30S/m | |||
電泳遷移率范圍 | ○ | 10-11～10-7m2/V.s | |||
電極 | ○ | 開放式*型電極 | |||
系 統(tǒng) 參 數(shù) | 溫控范圍與精度 | －5～110℃，±0.1℃ | |||
激光源 | 40mW光泵半導(dǎo)體激光器 | ||||
檢測器 | PMT或APD | ||||
分析軟件 | Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 | ||||
大小及重量 | 233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg | ||||
選
件 | BI-ZTU自動滴定儀 | 可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖 | |||
BI-870介電常數(shù)儀 | 直接測量溶劑的介電常數(shù)值 | ||||
BI-SV10粘度計 | 用于測量溶劑及溶液的粘度 | ||||
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