承裝修試設(shè)備-抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀

是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印，使用方便、無需換算、自帶高壓，抗*力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。體積小、重量輕，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

二、技術(shù)指標(biāo)

1、環(huán)境溫度：0~40℃（液晶屏應(yīng)避免長時(shí)日照）

2、相對(duì)濕度：30％~70％

3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±1Hz

4、外形尺寸：長×寬×高=4900mm×300mm×390mm

5、重量：約18kg

6、輸出功率：1KVA

7、顯示分辨率：4位

8、測(cè)量范圍：

介質(zhì)損耗（tgδ）：0-50％

電容容量（Cx）和加載電壓：

2.5KV檔：≤300nF（300000pF）

3KV檔：≤200nF（200000pF）

5KV檔：≤ 76nF（ 76000pF）

7.5KV檔：≤ 34nF（ 34000pF）

10 KV檔：≤ 20nF（ 20000pF）

9、基本測(cè)量誤差：

   介質(zhì)損耗(tgδ)：1％±0.07％（加載電流20μA~500mA）正接

介質(zhì)損耗(tgδ)：2％±0.09％（加載電流 5μA~ 20mA）反接

電容容量( Cx )：1.5%±1.5pF

JYK-A抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀

技術(shù)指標(biāo)

1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長時(shí)間日照）

  2、相對(duì)濕度：30%～70%

  3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±Hz

  4、外形尺寸：長*寬*高=435mm*300mm*300mm

  5、重量：20kg

  6、輸出功率：1KVA

  7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

  8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接法

  9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF

               外接試驗(yàn)電壓：≤10μF

 10、基本測(cè)量誤差：

            介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5%±0.09%

電容容量（Cx）：1.0%±2PF 

 工作原理

儀器測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路，

標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品的電容容值（Cx）和其介質(zhì)損耗（tg）。

數(shù)據(jù)采集電路全部采用高穩(wěn)定度器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器的外殼接地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，故測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。

儀器高壓變壓器的高壓側(cè)和測(cè)量線路都是浮地的，用戶可根據(jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要，靈活地采用多種接線方式。如采用“正接線法”進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可將“E”點(diǎn)接地；而當(dāng)采用“反接線法”進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可將“UH”點(diǎn)接地，而將E點(diǎn)浮空。

承裝修試設(shè)備-抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀