高低溫三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱可用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括鋰電池、金屬、塑料、 橡膠、 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

高低溫三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱

用于電子芯片IC、PCB、半導(dǎo)體、高分子材料、Bonding線及其電路的溫度應(yīng)力篩選、溫度沖擊測試及可靠性測試實(shí)驗(yàn)。

m 液槽冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用于在短時(shí)間內(nèi)再現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果的有效試驗(yàn)裝置

m 對(duì)應(yīng)美軍標(biāo)MIL-STD-883E等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

m 采用空氣氣缸方式及新的入槽方式，減少對(duì)試驗(yàn)樣品造成振動(dòng)的影響，避免不必要的應(yīng)力影響

m 通過提高試驗(yàn)區(qū)的氣密性、防止蒸發(fā)，采用水分離濾網(wǎng)分離水份

m 采用全身自動(dòng)上下左右位移機(jī)構(gòu)移動(dòng)試料藍(lán)至預(yù)熱、預(yù)冷槽，往返沖擊方式

GB/T10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GJB 150.3A-2009高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009低溫試驗(yàn)

GJB150.5A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法

GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化