詳細介紹
高低溫三箱式溫度沖擊試驗箱可用來測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 借以在短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括鋰電池、金屬、塑料、 橡膠、 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。
高低溫三箱式溫度沖擊試驗箱
用于電子芯片IC、PCB、半導體、高分子材料、Bonding線及其電路的溫度應力篩選、溫度沖擊測試及可靠性測試實驗。
m 液槽冷熱沖擊試驗箱是用于在短時間內(nèi)再現(xiàn)試驗結(jié)果的有效試驗裝置
m 對應美軍標MIL-STD-883E等試驗標準
m 采用空氣氣缸方式及新的入槽方式,減少對試驗樣品造成振動的影響,避免不必要的應力影響
m 通過提高試驗區(qū)的氣密性、防止蒸發(fā),采用水分離濾網(wǎng)分離水份
m 采用全身自動上下左右位移機構(gòu)移動試料藍至預熱、預冷槽,往返沖擊方式
GB/T10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2001 試驗B:高溫試驗方法GJB 150.3A-2009高溫試驗
GJB 150.4A-2009低溫試驗
GJB150.5A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法第5部分:溫度沖擊試驗GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)鑒定方法
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 2部分:試驗方法試驗N:溫度變化