詳細介紹
恒溫老化測試環(huán)境模擬實驗儀器設備主要用于航天、信息、電子等領域,確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設備在 低氣壓、濕度、高溫、低溫單項或同時作用下的環(huán)境適應性與可靠性試驗,并同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測 量。
m 高低溫低氣壓試驗箱體采用數(shù)控機床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便
m 箱體內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板,箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度
m 溫度控制儀表采用進口觸摸屏,可編程微電腦PID控制SSR輸出運行,全進口超大液晶彩色觸摸屏幕畫面
m 恒溫老化測試環(huán)境模擬實驗儀器設備冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設計
m 風路循環(huán)出風回風設計,風壓、風速均符合測試標準,并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快
m 采用多翼式送風機強力送風循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻五層強化玻璃大視窗
m 室內(nèi)安裝防爆燈,可清晰觀察試驗品在試驗中的狀態(tài),窗口具有防汗電熱器裝置可防止水氣凝結
m 加濕、升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率
GB/T10590-2008 低溫/低氣壓試驗箱技術條件GB/11159-89 低氣壓試驗箱技術條件
GB/T 10590-2006高低溫/低氣壓試驗箱技術條件GB/T2423.25-1992低溫/低氣壓綜合試驗箱GB/T2423.26-1992高溫/低氣壓綜合試驗箱GJB150.2-86 低溫/低氣壓(高度)試驗
GB/T5170.10-2008電工電子產(chǎn)品高低溫低氣壓試驗設備