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詳細介紹
QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復雜區(qū)域測量，涂層QuaNix4200P測厚儀（分體式）零位穩(wěn)定，無需校準，溫度補償，紅寶石探頭，*的直流采樣技術。
QuaNix4200P涂層測厚儀（分體式）適合測量鋼、鐵等鐵磁性（Fe）金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等
技術參數
QuaNix4200P測厚儀（分體式）-技術參數：
QuaNix4200P | |
測量范圍 | QNIX4200P（分體型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um |
QNIX4200P5（分體型）：Fe:0-5000um；NFe:0-5000um
| |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數 | |
1000-3000um≤±3%讀數 | |
小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
小曲率半徑 | 凸面：3mm；凹面：25mm |
小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
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