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北京麥迪森科技有限公司
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閱讀：98發(fā)布時間：2023-3-29
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，不斷進行產品迭代及功能拓展，已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿，產品覆蓋國內原位電鏡市場的同時也遠銷美國、英國、德國及澳大利亞科研市場。
PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位電學測量樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控
制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品
的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
原位電學測量樣品桿技術指標
原位電學測量樣品桿產品選型
原位電學測量樣品桿 具有單傾、雙傾兩個版本，用戶可根據實驗需求自行選擇。
提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及
極靴的不同型號樣品桿，同時保證透射電鏡原有分辨率。
典型案例
1、透射電鏡內的原位電學實驗；
2、透射電鏡內的原位壓縮、拉伸實驗。
以上便是為您帶來的透射電鏡原位電學測量樣品桿介紹，關于透射電鏡原位
電學測量樣品桿價格請咨詢（微信同號）。
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