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詳細(xì)摘要： 奧林巴斯38DLP 超聲波測厚儀雙晶與單晶探頭 堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn) 厚度測量范圍為0.08毫米～635毫米

詳細(xì)摘要： MMS AUTOMATION菲希爾自動(dòng)化在線測量系統(tǒng)模塊和探頭直接安裝在機(jī)器人上（不受環(huán)境影響） 模塊和基本單元通過拖鏈電纜連接（zui高達(dá)30米）

詳細(xì)摘要： XAN手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測量。

詳細(xì)摘要： XDL XDLM XDAL手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀由于測量距離可以調(diào)節(jié)（zui大可達(dá)80mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

詳細(xì)摘要： XDV-µ手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀*的多毛細(xì)管透鏡，可將X射線聚集到極微小的測量面上 現(xiàn)代化的硅漂移探測器（SDD），確保*的檢測靈敏度

詳細(xì)摘要： XDV-SDD手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量zui薄的鍍層

詳細(xì)摘要： XUL XULM手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位

詳細(xì)摘要： XUV手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的真空測量室能夠通過 X 射線熒光分析 （RFA） 檢測原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素。

詳細(xì)摘要： FMP10 40手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀高效的測量；充足的內(nèi)存，可用于數(shù)千個(gè)應(yīng)用，以及多種統(tǒng)計(jì)與顯示功能

詳細(xì)摘要： FMP100 150手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀測量符合標(biāo)準(zhǔn)，具有適用于IMOPSPC、 SSPCPA2、QUALANOD或QUALICOAT的特殊模式

詳細(xì)摘要： PMP10菲希爾手持膜厚儀通過相敏測量技術(shù)對鋼上的鎳、鋅或銅鍍層厚度進(jìn)行精確測量，甚至可在粗糙表面上進(jìn)行測量

詳細(xì)摘要： SR-SCOPE RMP30-S菲希爾手持膜厚儀易于使用的手持式設(shè)備，用于精確測量電路板上的鍍層厚度

詳細(xì)摘要： XAN®500型X射線熒光儀器基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測量。

詳細(xì)摘要： FISCHERSCOPE HM2000納米壓痕測量儀器適用于通過納米壓痕法分析材料的機(jī)械與彈性特性。

詳細(xì)摘要： FISHERSCOPE® ST200劃痕測試儀可以簡便地測試厚度≥1um涂層的粘合力和結(jié)合強(qiáng)度。儀器十分適用于研發(fā)、質(zhì)量控制、來料檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控等領(lǐng)域...

詳細(xì)摘要： 日立新一代全數(shù)字化透射電子顯微鏡HT7800通過將CCD相機(jī)與顯微鏡主機(jī)的操作相統(tǒng)一，可以在顯示器畫面上輕松、簡便地進(jìn)行操作

詳細(xì)摘要： 日立新型高分辨率透射電鏡HT7830采用高亮度的LaB6燈絲，可實(shí)現(xiàn)0.19nm（on-axis）的線分辨率，是目前120kV透射電鏡的zui高分辨率。

詳細(xì)摘要： 日立全新120kV透射電鏡HT7820在較低的加速電壓下，仍保持較高的分辨率，在大程度降低樣品損傷的同時(shí)，獲得高質(zhì)量的高分辨圖片。

詳細(xì)摘要： 日立高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000用改良的高真空性能和的電子束穩(wěn)定性來實(shí)現(xiàn)高效率截面觀察。

詳細(xì)摘要： 日立新型冷場發(fā)射掃描電鏡Regulus8200系列選配頂端過濾器，可實(shí)現(xiàn)良好的成分對比度 優(yōu)異的擴(kuò)展功能，可附加多種功能附件。