1.  應(yīng)用范圍：

用于物相定性、定量、結(jié)晶度、晶粒大小、微觀應(yīng)力、點(diǎn)陣參數(shù)測(cè)定、界孔材料、薄膜材料物相分析等。

2．概 述

APD2000 X射線粉末衍射儀,是GNR公司推出的新一代X射線粉末衍射儀，采用大功率X射線發(fā)生器，石英射線管、銅靶、標(biāo)準(zhǔn)的長(zhǎng)細(xì)焦點(diǎn)，輸出功率可達(dá)3KW，采用高速讀取的測(cè)角儀、光學(xué)編碼器配合步進(jìn)電機(jī)可獲得精que地角度值，可在水平和垂直的方向上完成角度測(cè)量，采用新一代的閃耀計(jì)數(shù)器，可勝任定性和定量分析工作。
        

3.  技術(shù)規(guī)格

3.1 X射線發(fā)生器    

  3.11 輸出功率：  3 KW(可選配4 kW)

  3.12 輸出穩(wěn)定性：    < 0.01 % ( 10%電壓波動(dòng))

  3.13 輸出電壓：  60kv

  3.14 輸出電流 :   60A(可選配80A)

  3.16 電壓步寬：      0.1kV

  3.17 電流步寬：      0.1mA

  3.18 輸入電壓:        230 Vac(±10%), 50/60 Hz, 單相

3.2 X射線管

  3.21 類型：石英（可選陶瓷），銅靶（任何X射線管可選配），

  3.22 焦點(diǎn)：長(zhǎng)細(xì)焦點(diǎn)0.4 x 12 mm LFF (可0.4 x 8 mm 細(xì)焦點(diǎn);1 x 10 mm 標(biāo)準(zhǔn)焦點(diǎn);2 x 12 mm長(zhǎng)寬焦點(diǎn))

  3.23 輸出功率：3.0KW

3.3 測(cè)角儀Kα

  3.31配置：             垂直或水平θ/2θ

  3.32檢測(cè)直徑：          350-400mm

  3.33垂直掃描角度范圍：  - 60° < 2θ< + 168°(取決于所選附件)

  3.34:水平掃描角度范圍：  - 110° < 2θ< + 168°(取決于所選附件)

  3.35測(cè)量角精度：         ± 0.0001°

  3.36最小選擇步數(shù)：      0.0001°

  3.37操作模式：           連續(xù)掃描、步進(jìn)掃描、θ/2θ掃描、快速掃描、θ軸向震動(dòng)

  3.37可變發(fā)散狹縫：       0 - 4°

  3.38可變防散射狹縫：     0 - 4°

  3.39梭拉狹縫：          0 - 4°

3.4 檢測(cè)器

  3.41 類型:            *閃爍計(jì)數(shù)器,(f可選YAP (Ce）,拋光硅CCD檢測(cè)器)

  3.42 計(jì)數(shù)方式：     2 x 106 cps (Nal)， 2 x 107 cps (YAP(Ce))

3.5 控制軟件

  3.51 數(shù)據(jù)采集程序

        GNR提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集程序，可以適用于標(biāo)準(zhǔn)配，同時(shí)適用于自定義配置。

        軟件可以應(yīng)用在粉末、高分辨率衍射儀、殘留馬氏體、應(yīng)力（平面和三軸）和薄膜分析。程序可以控制X射線發(fā)生器、準(zhǔn)直器、多用途樣品臺(tái)、閃耀計(jì)數(shù)器、陣列檢測(cè)器、固態(tài)檢測(cè)器、高低溫度和其他器件。

3.52 SAX

       可以進(jìn)行單峰分析、峰值處理、背景差減，平滑，反褶積和峰值定位。結(jié)構(gòu)分析，晶體尺寸，晶格應(yīng)變，反射的定性和定量分析。