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PALAS納米粒子測量儀 空氣質(zhì)量檢測儀

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參  考  價:999999
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產(chǎn)品型號

    U-SMPS2050/2100/2200

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商

  • 所在地

    天津市

規(guī)格

999999元 1 件 可售

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更新時間:2024-10-28 14:50:38瀏覽次數(shù):521次

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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地 進口    

PALAS納米粒子測量儀通用掃描遷移率粒度儀,適合各種應(yīng)用(8–1200nm
粒徑分布從8 nm到1.2 µm
? 連續(xù)和快速掃描的測量原理
? 高分辨率,Z多128個大小類/衰減
? 適用于高達108顆粒數(shù)/立方厘米的濃度
? 可以連接其他制造商的DMA和納米粒子計數(shù)器
? 圖形顯示測量值
? 直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI

詳細介紹

PALAS納米粒子測量儀

PALAS納米粒子測量儀通用掃描遷移率粒度儀,適合各種應(yīng)用(8–1200nm)

   粒徑分布從8 nm到1.2 µm
   連續(xù)和快速掃描的測量原理
   高分辨率,Z多128個大小類/衰減
   適用于高達108顆粒數(shù)/立方厘米的濃度
   可以連接其他制造商的DMA和納米粒子計數(shù)器
   圖形顯示測量值
   直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI
   集成數(shù)據(jù)記錄儀
   支持多種接口和遠程訪問
   低維護
   功能可靠
   減少您的運營費用 *請聯(lián)XiPalas®了解更多信息。
  • 說明

  • 規(guī)格參數(shù)

  • 優(yōu)點

  • 應(yīng)用領(lǐng)域

PALAS納米粒子測量儀 空氣質(zhì)量檢測儀

圖1:U-SMPS 2050/2100/2200

Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩個版本。長分類柱(2050/2100型)能夠可靠地確定8至1,200 nm的粒徑分布。 Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個分類器[在ISO 15900中定義為差分電遷移率分類器(DMA),也稱為差分遷移率分析器(DEMC)],根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇并傳遞給出口。

然后通過冷凝顆粒計數(shù)器(例如Palas®UF-CPC)對這些顆粒進行計數(shù)。三種可用的UF-CPC模型可實現(xiàn)各種濃度范圍內(nèi)的Z佳單顆粒計數(shù)。 Wiedensohler教授(德國IfT萊比錫)開發(fā)了Palas®的算法,用于對測量數(shù)據(jù)進行反演以產(chǎn)生U-SMPS粒度分布。

U-SMPS使用觸摸屏上的圖形用戶界面進行操作。單個粒子分布掃描可以在短短30秒內(nèi)執(zhí)行,或者,每十個通道Z多執(zhí)行64個尺寸通道,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化,從而導(dǎo)致每個尺寸通道的計數(shù)統(tǒng)計更高。集成的數(shù)據(jù)記錄器允許在設(shè)備上以線性和對數(shù)顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數(shù)據(jù)評估(廣泛的統(tǒng)計和平均)以及導(dǎo)出功能。

U-SMPS通常作為獨立設(shè)備運行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)連接到計算機或網(wǎng)絡(luò)。 Palas®U-SMPS支持其他制造商的各類DMA、CPC和氣溶膠靜電計。

U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能十分重要,對于校準來說尤其如此。所有組件都通過嚴格的質(zhì)量保證測試,并在內(nèi)部組裝。

圖2展示U-SMPS的工作原理:

氣溶膠在進入分類器(DEMC列)之前經(jīng)過調(diào)節(jié)??蛇x的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr 85)來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類機尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
PALAS納米粒子測量儀 空氣質(zhì)量檢測儀

圖2:通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理

然后,氣溶膠通過入口導(dǎo)入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是,在此處應(yīng)避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有*的質(zhì)量。

鞘空氣是干燥的、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠的體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比定義傳遞函數(shù),從而定義尺寸分類器的分辨率。

通過施加電壓在內(nèi)和外電極之間產(chǎn)生徑向?qū)ΨQ的電場。內(nèi)電極在末端具有小縫隙,帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學(xué)阻力,帶負電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。根據(jù)它們的電遷移率,一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。

在工作中,電壓和電場連續(xù)變化。結(jié)果,遷移率變化的粒子離開DEMC,并由納米粒子計數(shù)器(例如縮合粒子計數(shù)器)(例如Palas®UF-CPC)連續(xù)進行測量。

在實際條件下,經(jīng)過測試的軟件為組合數(shù)據(jù)(電壓、粒子數(shù)等)并獲得粒度分布提供特殊的處理功能,如圖3所示。
PALAS納米粒子測量儀 空氣質(zhì)量檢測儀

圖3:Palas®DNP 3000顆粒發(fā)生器產(chǎn)生的氣溶膠的粒徑分布

用戶界面和軟件

基于持續(xù)的客戶反饋,我們已設(shè)計良好的用戶界面和軟件,以實現(xiàn)直觀的操作、實時控制,并可以顯示測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。

此外,軟件還通過集成的數(shù)據(jù)記錄器、完善的導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)支持為數(shù)據(jù)管理提供支持??梢允褂迷S多可用的顯示選項和測量數(shù)據(jù)評估功能。




















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