產(chǎn)品簡介：

霍爾效應系統(tǒng)組成：本儀器系統(tǒng)由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統(tǒng)軟件組成。為本儀器系統(tǒng)專門研制的JH10 效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10 可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統(tǒng)是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。 實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度(Bulk Carrieroncentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。

可測試材料:

半導體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等；

低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR 材料等；

高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等

JH60 測試時，只需要輸入三個關鍵參數(shù)即可進行測量，磁場的轉換為手動轉換，需要轉換磁場方向時程序會彈出信息框，根據(jù)測試程序的提示完成相應的操作即可獲得樣品需要的參數(shù)。

測量時只需要設置好樣片通過的電流、樣片所在磁場環(huán)境的磁場大小、樣品厚度即可進行測量，數(shù)據(jù)可以繪圖，可以導出至EXCEL中以便后期處理及使用。