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高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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束倫（上海）技術(shù)服務(wù)有限公司

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產(chǎn)品簡介

性能指標(biāo)電鏡分辨率:1.5nm@15kV

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

電鏡分辨率: 1.5nm @ 15kV；2.0nm @ 10kV；3.0nm @ 5kV
加速電壓: 500V～30kV
束流大小: 20nA
電鏡物鏡模式: 磁浸入模式UHR、無磁場模式HR
電鏡檢測器: 高真空二次電子檢測器(SE)、極靴內(nèi)二次電子檢測器(TLD)、極靴內(nèi)背散射電子檢測器(TLD-B)、四分固體式背散射電子探測器(BSE)、樣品室紅外CCD探測器
能譜分辨率: 129eV(Mn Kα) 能譜元素檢測范圍: B5～U92

主要應(yīng)用

固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu)，樣品的微區(qū)元素成份及線分布、面分布，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、熱能、地球科學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。
粉末、微粒樣品形態(tài)的測定金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物、細(xì)胞等材料的顯微形貌分析復(fù)合材料界面特性的研究材料中元素定性分析、定量分析、線分析、面分析材料及電子器件失效分析

樣品要求

儀器說明

儀器名稱：高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡硅漂移探測器能譜儀 Field-emission Scanning Electron Microscopy & Energy Dispersive Spectrometer
儀器型號：Sirion 200 (SEM)& INCA X-Act (EDS) 儀器縮寫：SEM
生產(chǎn)廠家：美國FEI公司& 英國Oxford公司
安裝日期：2005年
關(guān)鍵詞：掃描電鏡 SEM 能譜儀 EDS 微觀形貌表面形貌元素成分元素分布
儀器簡介： Sirion 200型掃描電子顯微鏡具有超高分辨率，該儀器能實(shí)現(xiàn)對各種固態(tài)樣品表面形貌的觀察，獲得表面形貌的二次電子像、背散射電子像。
該儀器配備的x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量分析。

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